全新发布 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微 (AFM) 的优势,实现了在同一系统中对样品进行多模态(SEM AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学)关联分析、/p>
· 设备扫描范围(开环)?00μm×100μm×20μm
· 设备扫描范围(闭环)?0μm×80μm×16μm
· 分辨率:0.2nm×0.2nm×0.04nm
· **样品尺寸?1mm×11mm×8mm
· **样品重量?00g
· 成像模式:表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves筈/p>