退火处理对CVD生长石墨烯薄膜功函数的影哌/div>
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2024-07-19
编号:FTJS106549
篇名 退火处理对CVD生长石墨烯薄膜功函数的影
作者: 姜燕 程振 宋娟
关键词: 石墨 功函 原子力显微镜 退 表面接触电势 化学气相沉积
机构:江苏大学材料科学与工程学院
摘要 通过退火处理去除了石墨烯薄膜上的吸附气体和杂质,改变了石墨烯表面吸附情况.利用原子力显微镜和开尔文扫描探针显微?对退火处理前后的石墨烯薄膜表面进行了原位扫描,分别得到其退火前、后的表面形貌和表面接触电势差图.根据表面接触电势差测量结果进一步计算其功函?并对退火处理导致的功函数变化机理进行分?结果表明:退火处理使得石墨烯薄膜与SiO2衬底间的水分子层逸出,从而导致石墨烯薄膜与SiO2衬底间距减小,降低了石墨烯薄膜的P型掺杂水?使得费米能级上升、石墨烯薄膜功函数减?