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剖玄析微:DRT技术对复杂电极过程的高分辨解析

剖玄析微:DRT技术对复杂电极过程的高分辨解析

1、前言


在电池的研究和应用中,常用电化学阻抗谱(Electrochemical Impedance Spectroscopy,EIS)来分析内部机理+strong>但是仅凭对阻抗数据的直观观察和特征识别,很容易忽略那些时间常数相近、相互重叠的电化学过程、/strong>DRT作为把阻抗谱从频率域转换到时间域的一项分析技术,能够把每一个电化学过程剥离出其特征时间常数τ,不依赖等效电路模型(Equivalent Circuit Model ECM)将阻抗组成拆解分析、/p>


2、Nyquist图的剥离重叠


初看EIS曲线的Nyquist图,认为只有一个半?扩散直线,而一个半圆实际由多个半圆重叠而成,因而需要用到等效电路进行分解,剥离出多个半圆、/p>

Nyquist-ECM-DRT关系如图9/p>

1.png

ECM方法依赖等效模型的识别,如图所用RQ二阶等效电路进行拟合,而不同的电芯以及不同的EIS图谱能够肉眼识别出来的内部反应过程往往不一致、/p>

因此使用新型的分析技术—–strong>弛豫时间分布(Distribution of Relaxation Times,DRT),将EIS谱图中弛豫时间重叠的电化学过程分解为一系列特征峰、/strong>这种分解显著提升了对EIS数据中微小变化的分辨能力。通过解析峰的面积、位置和高度,可以获得动力学参数以及性能等信息、/p>


3、技术详解:EIS→DRT


DRT是一种数学处理方法、/strong>它通过对EIS数据进行反卷积计算,将频域信息转换为时域信息,因此所有的EIS都可以进行DRT分析、/p>

2.jpg

·γ(τ) 是弛豫时间分布函数——这就是我们想要的DRT?nbsp;

·R 是欧姆电阺/p>

·τ = RC 是时间常?/p>

由于EIS的数据有以下可能存在的问颗/strong>

1.离散采样9/strong>EIS只在有限个频率点测量

2.噪声干扰9/strong>实测数据包含测量误差

3.信息重叠9/strong>多个过程的时间常数可能很接近

为了解决这个问题,DRT采用各种正则化算泔/strong>9/p>

· Tikhonov正则化:最常用的方法,通过引入惩罚项抑制噪声放?nbsp;

·Richardson-Lucy反卷积:基于迭代的算泔/p>

·岭回归:另一种正则化方法

这些算法的核心都是在拟合精度咋strong>解的平滑?/strong>之间寻找平衡。过高的分辨率会产生假峰,过低的平滑度又会丢失真实信息、/p>


4 、智能分析:EIS-DRT转换及谱图解诺/em>


元能科技的电化学性能分析仪(ERT7008)软件配套DRT分析功能,且能对DRT图谱进行积分运算求得峰面积即对应等效电路拟合的阻抗值,为阻抗分解提供新的快捷分析方法、br/>

3.png

DRT图谱常规两种作图方法:一样的本质

原始数据作图对X轴刻度线进行对数Log10转换

4.jpg

原始数据X列数据进行对数log10转换后作国/p>

5.jpg

DRT图谱分析9/strong>

6.jpg7.jpg

8.jpg

每个半圆对应一个反应过稊一个DRT?/span>



5 、结讹/em>


这说明DRT分析用纯数学处理技术,不依赖等效电路即可剥离出各个过程,其峰对应的是EIS真实的圆弧,峰面积对应该圆弧相对的反应过程的阻抗。峰面积(阻抗)计算:DRT数据进行SUMPRODUCT阶梯计算其面?/p>

9.jpg

元能科技的DRT分析软件通过选取峰范围进行积分计算,即可快速得到峰面积(阻抗),智能分析节省繁杂的数据处理与作图时间、br/>

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