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日本JEOL场发射透射电子显微镜JEM-F200
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验、/span>
产品规格９/strong>
超高分辨极靴 |
高分辨极靳/span> |
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分辨玆/span> |
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TEM点分辨率 |
0.19 nm |
0.23 nm |
STEM-HAADF 僎/span> |
0.14 nm @冷场?/span> |
0.16 nm @冷场?/span> |
0.16 nm @热场?/span> |
0.16 nm @热场?/span> |
|
加速电厊/span> |
200 80 kV |
200 80 kV |
主要选配仵/span> |
能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统 |
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产品特点９/strong>
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验、/span>
外观设计精炼
精炼的外型，全新的视觉感受、/p>
为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便、/p>
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高、/span>
四级聚光镜系绞/strong>
现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技?-- 从明?暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求、/span>
高端扫描系统
JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System 即成像系统的电子束扫描功能（选配）、/span>
皮米样品台驱?/strong>
JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视?从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行、/span>
SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置（/strong>
插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作 JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出、/span>
改进的冷场发射电子枪
JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察、/span>
双能谱（SDD（/strong>
JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件） 凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小、/span>
环保节能
JEM-F200?*个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以*小的能耗保持着电镜?*条件。该设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态、/span>
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