安东帕新品发 | 新一代Litesizer DIF 激光衍射粒度仪和Litesizer DLS 系列动态光散射粒度?/div>
安东帕中 2025/2/12 12:17:14 点击 1891 欠/div>

新品发布

Litesizer DIFLitesizer DLS


Litesizer DIF 激光衍射粒度仪



Litesizer DLS 系列

动态光散射粒度

Zeta 电位分析?/strong>


01Litesizer DIF 激光衍射粒度仪


安东帕的新型激光衍射粒度仪+/strong>它建立在 60 年的专业知识和其前身 PSA 的宝贵经验之上、/p>

Litesizer DIF提供领航新一代的粒度测量技术,测量范围 10 nm 3.5 mm。这是一个新时代的开始,拥有一流的光学系统、强大的 10 mW 25 mW 双波长激光器,以及领先的 0.01° 170° 的宽范围衍射角检测器阵列、/p>



主要特点

  • 尺寸范围?0nm 3.5mm

  • 两个固态激光器?0 年保?/p>

  • 市场上最高的激光功率和最宽的角度范围

  • 16kHz 的尖端数据采集率

  • 光学系统具有减震和防尘设计,稳定耐用

  • 快速连接的分散单元(可与Litesizer DIA互换(/p>

  • Kalliope软件-直观的一页工作流程设计和专用的QC模式


行业应用


水泥和矿?/p>


制药行业


食品饮料


化学工业


催化剁/p>

金属粉末


02Litesizer DLS 系列动态光散射粒度

Zeta 电位分析?/span>


全新 Litesizer DLS 系列动态光散射粒度和Zeta电位分析?/strong>提供世界领先的粒度和 Zeta 电位测量功能。具有业界先进的多角度测量和自动角度选择功能,更为先进的 MAPS(多角度协同粒度测量)技术,可实现最高的峰值分辨率。连续透射率监测可在测量过程中检测沉降和团聚,从而提高测量的可靠性、/p>



主要特点

  • 全功能模式:智能多角度DLS粒度测量、多角度联合MAPS粒度测量、ELS模式Zeta电位测量、SLS分子量测量、PCON粒子浓度测量、透光率测量、折光率测量

  • 测量温度 0 ?20ℂ/p>

  • 最小样品量?.5μL

  • DLS 测量角度?5°?0°?75°三角?/p>

  • 粒度测量范围 0.3 nm 12 ?m

  • 专利 cmPALS 技术,市场领先 Zeta 电位分析

  • Kalliape软件:粒度测量软件新标杆,简洁智能,零基础入门,三次点击即可获得专家级测量结果

  • 市场上最强大的偏振和荧光滤光牆/p>

  • 可升级:三角度荧光滤光片和偏振片

  • 具备Litesizer DLS101?01?01不同型号,满足不同需汁/p>


行业应用


制药和生命科?/p>


化学工业


食品饮料


重工业和石油


废水和造纸


半导体和电池

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