产品介绍

BeVision D3系列是一款全新开发的具有**的自动化粒度粒形分析仪。其采用动态图像法的测量原理，搭载BV-F10干法重力分散器和双CMOS数字成像系统。样品装载在料斗中，料槽通过振动分散和运送颗粒，颗粒在自由落体运动过程中进一步分散，同时高速相机采集运动颗粒图像并进行实时分析，几分钟即可完成测试，输出粒径粒形结果，为流动性和分散性较好的颗粒和粉体材料测量提供了效率的解决方案、�/p>

全新开发的BeVision 5.0软件不仅能够提供37个粒度、粒形测量参数的分布结果及多种关键统计量，更多的升级功能和新增功能能够帮助用户实现更加全和便捷的数据分析工作、�/p>

基本性能指标

	BeVision D3 Pro	BeVision D3	BeVision D3 Macro	BeVision D3 Zoom
测量原理	DIA	DIA	DIA	DIA
光学系统	双相机联用系绞�/span>	单相机系绞�/span>	单相机系绞�/span>	单相机系绞�/span>
测量范围*	0.5 μm~16 mm	11.5 μm~16mm	20μm~26mm	0.5μm~940μm
ISO测量范围*	2 μm~8 mm	35μm~8 mm	58 μm~13 mm	2 μm~470 mm
CMOS相机	500万像紟�/span>	500万像紟�/span>	500万像紟�/span>	500万像紟�/span>
光源	绿色光源及蓝光光溏�/span>	绿色光源	绿色光源	蓝光光源
重复�?标准�?/span>�?/span>D50)	�?.5%	�?.5%	�?.5%	�?.5%
粒径参数	面积等效径、周长等效径�?小外接矩形长径�?小外接矩形短径�?*费雷特直径�?小费雷特直径、费雷特共轭径、勒让德椭圆长轴、勒让德椭圆短轴、马丁长径、马丁短径、测地线、厚度、筛分径
粒形参数	长径比、纵横比、圆形度�?1种算法）、椭圆率、延伸率、平直度、不规则度、紧凑度、扩展性、填充率、坚固性、凸度、凹�?/span>
结果输出类型	粒径粒形分布图及分级数据、散点图、单颗粒图像、单颗粒粒径粒形数据�?种类型的典型值（可自定义（�/span>
结果输出格式	图表输出：excel、txt.、JPG、BMP 报告单：PDF、excel
粒径粒形分级	可自定义
尺寸（长×宽×高（�/span>	686mm×300mm×325mm
重量	24kg
电源	100-240VAC�?0/60Hz
符合标准	ISO 13322-2、ISO 9276、GB/T 21649、GB/T 15445
电脑配置	Intel Core i9�?4代CPU，RAM 32.0GB�?nbsp;64�?nbsp;Window 10以上系统�?nbsp;1T以上SSD
BV-F10干法重力分散器选配�?nbsp;
料斗	150ml不锈钢料斗�?00ml不锈钢增量附仵�/span>
料槽	高摩擦系数不锈钢料槽、低摩擦系数不锈钢料槼�/span>
*测量范围指实际能够达到的粒径测量范围 *ISO测量范围指符合ISO13322-2标准定义的粒径测量范図�/span>

应用领域

� 塑料原料生产与质量控刵�/p>

� 矿物加工与选矿

� 农业产品

� 催化剂与吸附材料

� 食品原料品质及加工控刵�/p>

� 磨料

� 粉体研发与质量控刵�/p>

� 药物制剂开发与生产

� 新能源材斘�/p>

� 3D打印材料

突出特点

� 双CMOS同步测量，一次测量即可输出宽分布结果

� 对窄分布样品具有极高的分辨率

� 微量过大或过小颗粒都能够准确检浊�/p>

� 结果可以与筛分结果进行拟寸�/p>

� 高分辨相机以获得*清晰的颗粒图僎�/p>

� 高均匀性单色面光源及物方远心镜头确保图像无透视、无畸变，成像准�?/p>

� 自动调节进料速度，使分散效果、测试效率、重复性均达到**

� 自动从结果中剔除杂质、灰尘、连接颗粒，让判断不受干�?/p>

� 通过颗粒特征筛选，可进行混合物中的单一组分测量

� 连接颗粒自动识别，确保测量结果准确可靟�/p>

� 标准化测试流程，结果不受人为影响

� 测试效率高，典型测量时间�?min

� **的重复性及重现�?/p>

� 操作简单、自动化程度髗�/p>

� 无样品量限制

� 几乎无需维护

良好的重复�?/span>

对于窄分布的玻璃珠，BeVision D3能够为粒径测量提供甚至优�?.1%的重复性、�/span>

对于宽分布且形状极不规则的破碎大豆颗粒，其D50的重复性依旧优�?.5%、�/span>

全面的粒度粒形分枏�/span>

BeVision D3能够从长度、直径和弯曲程度三方面对棒状的石油裂解催化剂进行全面的评价。其测量结果与对颗粒特征的直观判断高度一致、�/p>

准确测量含量极少的过大颗粑�/span>

6分钟检测了超过100万个着色剂颗粒，分布图显示其含有极少量的过大颗粒，通过图像可判断出每个过大颗粒都是由多个着色剂小颗粒形成的团聚体、�/p>

对窄分布具有高分辨率

磨料中存在过大或过小的颗粒都会影响研磨效果。BeVision D3在测量过程中对每一个捕捉到的颗粒进行计算，再对所有颗粒进行统计分析，分辨率可准确到具体颗粒。并且BeVision D3能够按照用户需求输出准确的过大颗粒和过小颗粒含量。另外还能够同步测量粒形，评价磨料颗粒的锋利度、�/p>

测量结果可与筛分结果拟对

BeVision D3测量的粒径参数中的筛分径算法与筛分法的测量原理进行匹配，能够提供接近筛分的粒径结果，并且通过筛分拟对功能，能够对由测量原理、颗粒形状、统计学方法等客观因素导致的固定差异进行自动补偿，直接输出与筛分一致的粒径分布结果、�/p>

BeVision D3直接输出的粒径分布与筛分结果具有一致性。用户可从筛分法零难度的切换为BeVision D3，大大提高测量效率，降低人力成本、�/p>