SOC-200是一款高精度科研�?/span>BRDF测量系统，可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品皃�/span>BRDF，实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函�?/span>＇�/span>BRDF）制国�/span>、�/span>BRDF数据可以提供研究材料光学性能所必须皃�/span>方向反射信息，如表面能量散射的方向和强度、�/span>

主要特点９�/strong>

n光谱范围９�/span>0.35~14��m（基亍�/span>检测器选项（�/span>

n测量本底噪声９�/span><10-3sr-1

n可水平装�?/span>粉末和液体样�?/span>进行测量

n重复�?/span>９�/span>；�/span>本底噪声皃�/span>5＄�/span>

n全自动测量四�?/span>角坐� ＇�/span>��and���?/span>入射叉�/span>反射角）

n集成电控单元，用亍�/span>快速处理�?/span>显示和存�?/span>数据

n自动带通滤光轮＋�/span>一次性测野�/span>十二种多光谱通道、�/span>

n支持斯特林循环冷却的MCT咋�/span>InSb检测器＋�/span>�?/span>�?/span>无人值守�?/span>全自�?/span>数据采集＋�/span>自动切换标样样品测量

测量指标９�/strong>

n全半球双向反射分布函�?/span>＇�/span>BRDF（�/span>

非偏�?/span>BRDF

线性偏�?/span>BRDF

n双向透射分布函数＇�/span>BTDF（�/span>

应用领域９�/strong>

n航空工业

n国防

n航天

n行星探测

n涂层领域

n光学材料质量控制

技术参数：

顸�/strong>�?/strong>	叁�/strong>�?/strong>
测量项目	BRDF�?/span>BTDF
光谱范围	0.35~14��m
角度范围	?Incident polar: Theta i��i = 0�� to 85�� ?Incident azimuthal: Phi i��i = 0�� to 350�� ?Reflected polar: Theta r��r = 0�� to 85�� ?Reflected azimuthal: Phi r��r = 0�� to 360��
角度精度	0.1��
光谱滤波	标准商业匕�/span>1英寸薄膜带通滤光片
自动匕�/strong>	��i＋�/span>��i＋�/span>��r＋�/span>��r，光源孔径，滤光轮和栶�/span>�?/span>/叁�/span>�?/span>X�?/span>
光源	Quartz halogen lamp� and silicon carbide glower
检测器	Si� InGaAs� dual InSb/MCT
本底噪声	<10-3sr-1
样品尺寸	盳�/span>徃�/span>1英寸圆片、粉末、液佒�/span>
运行	PC控制，全自动测量
尺寸	53′�/span>W x 53′�/span>D x 75′�/span>H

产地：美囼�/strong>