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碳纳米管 四站式比表面积分析仪
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简介:比表面及介孔分布测定仪精微高博是静态法比表面及介孔分布测定?*权威的厂?精微高博静态法比表面及介孔分布测定仪一并荣获中国计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有**的专利产品是通过**
电池材料高性能比表面测试仪
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简介:精微高博是微孔分析仪**权威的厂?精微高博微孔分析仪一并荣获中国计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有**的专利产品是通过***高新技术企业。产品简介:研究型、高性能微孔分析仪,比表靡/div>
静态四站比表面及孔径分析仪JW-BK400系列
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基础 金属粉末比表面测试仪
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10ml 真密度测试仪
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简介:JW-M100A系列真密?绝对密度是固体材料特别是粉体颗粒的一项重要物理性能指标,其数值大小决定于材料化学组成纯度及固态致密性,其值直接影响材料质量、性能及用途。传统的测定材料真密度的方法是基于阿培/div>
35ml 真密度测试仪
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简介:Outline产品概览测试原理应用气体置换法,利用小分子直径的惰性气体在一定条件下的玻尔定律(PV=nRT),在温度不变的条件下,一定质量气体的体积与压力成反比。精密测定样品室中样品放入前后的气体体积
简介:【简单介绍】广角动静态激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器,通过动态光散射的方法可以测量小?nm的纳米颗粒分布情况,通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线
简介:【简单介绍】Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析?*结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(PhaseAnalysisScattering,相位分析光散射)技术,拥有15°
简介:【简单介绍?0PlusPALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目?*能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术,比其它测量Zeta电位的技
Acorn比表面分析仪
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简介:AcornAreaTM概述 Acorn比表面分析仪是一款革命性设计的新产品,可以对悬浮液状态下小至纳米尺寸的颗粒与液滴进行比表面测量和分析。这项新技?专利技?基于核磁共振(NMR)原理,同传统皃/div>
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