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首页 > 产品中心 > 测量/计量仪器 > FLIR CM174采用IGM?技术的钳形?/div>
产品详情
FLIR CM174采用IGM?技术的钳形?/div>
- 参考报价：
- 面议
- 品牌９/dt>
- 关注度：
- 350
- 样本９/dt>
- 暂无
- 型号９/dt>
- 产地９/dt>
- 美国
- 信息完整度：
-
- 典型用户９/dt>
- 暂无
产品简今/div>
FLIR CM174采用IGM?技术的钳形?/span>
FLIR CM174能够识别普通钳形表无法发现的问题。FLIR CM174采用IGM红外成像引导测量技术，集成FLIR Lepton?热成像传感器，提供一种在安全距离内识别热点和过载电路的可靠方式。红外成像引导测量技术明确引导您发现潜在电气问题的精确位置，通过丰富功能和温度读数助您确认发现结果、/span>
利用钳形表发现更多问颗/span>
更迅捷发现问颗/h6>
它能够快速识别问题，无需直接接触可能存在安全隐患的配电柜和电气柜或凌乱不堪的电线和电缆、/p>
确认发现结果
确认问题、检查负载、验证热点。获取精确的电流和电压读数以及中心点读数、/p>
解决复杂电气问题
CM174设计智能，其细长的夹钳与内置照明灯便于对光线不足、难于接触的位置进行检测。高级电气性能便于您获得所需读数（包括真有效值、低阻抗输入、变频测量模式、浪涌电流、智能二极管测量），快速解决问题。此外，通过使用FLIR 柔性电流钳可将交流电流测量范围扩展?000安培、/p>
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