误差率：
分辨率：
1%重现性：
仪器原理９/p>图像分析
分散方式９/p>
测量时间９/p>30s
测量范围９/p>10.2
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手持式四探针方阻测试?/strong>
一.概述Overview９/span>
参照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外型结构，可充电式电源系统，待机时间长，上下限设定.
手持式四探针方阻测试?/strong>
?功能介绍Function introduction９/span>
手持式外型结构适用于车间生产、品管抽检，外出、携带测量等要求测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企?
手持式四探针方阻测试?/strong>
?技术参数Technical Parameters９/span>
规格型号Specification model |
FT-391A |
FT-391B |
FT-391C |
1.方块电阻范围sheet resistance |
10?.00×102Ω/■/span> |
10?.00×103Ω/■/span> |
10?.00×104Ω/■/span> |
2.电阻率范围resistivity |
1?×103Ω-cm |
1?×104Ω-cm |
1?×105Ω-cm |
3.分辨率resolution |
0.01Ω |
0.01Ω |
0.01Ω |
4.显示读数display |
液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. |
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5.测试方式test mode |
单电测量single electrical measurement |
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6.工作电源working power |
5V.1000mA |
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7.误差errors |
?.5%（标准样片结果standard samples（/span> |
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8.选配choose to buy |
选配1.方形探头 选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间?mm?mm?mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm?mm?mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles. |
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----我们一直在做：研发、生产、销售、租赁、实验室样品分析及后延扩展服加/span>
手持式外型结构适用于车间生产、品管抽检，外出、携带测量等要求测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企?
四探针电阻率测试仪是一款主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器。四探针电阻率测试仪对于半导体材料的电阻率，一般采用四探针、三探针和扩展电阻。电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率皃/p>
LX-9830G 恒流恒压电压降检测仪详情介绍操作流程及步骤：1. 接通电源，开?. 设置好测试条?
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移动?/p>
工商已核宝/p>
