激光衍射技术是一种成熟的测量纳米到毫米范围颗粒粒径的方法。激光束照射到分散颗粒上，激光遇到颗粒会发生衍射，然后对相应� 衍射图谱进行检测和评估。安东帕的PSA仪器配合高分辨率探测器可以提供精确且可重复的测量信号，进而基于夫琅和费和米氏理论 即可计算粒度分布。这可确保完全符合ISO13320和USP<429>标准。PSA仪器具有广泛的粒度测量范围，皆源于以下优势：-多激光技�?干法和湿法一体式设计-高测量精度和重复�?坚固耐用的设讠�/p>

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LitesizerDLS系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器，您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子，从而缩短样品制备时间。关键功能得益于完美的角度选择-无论您的样品如何通过多角度粒度测�?MAPS)确保实现不同大小群体的高分辨率从三个检测角度（侧向、后向或前向散射）中进行选择，以实现最佳参数设置手动选择最适合的动态光散射仪器角度或使用自动角度选择得益于多功能后向散射角，这对于浊度样品较理想，其减少了多个散射事件，确保优秀的数据质量。依靠我们的cmPALS技术进行zeta电位测量通过LitesizerDLS700和LitesizerDLS50

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粉体和颗粒介质几乎可以在任何行业都在使用，它们作为原材料、中间产品或*终产品进行使用和加工。粉体在使用过程中可能会造成一些困难，因此，有效的质量控制和顺利的粉体加工非常重要。粉体行为特性在制造过程中可以改变，特别是当条件或环境改变时，例如粉体在气动输送过程中流态化，在储存过程中固结。当粉体特性已知时�?*对工艺条件进行修改适应，以便在加工过程中不会出现问题（例如分层）。AntonPaar公司的两个粉体测量池（粉体流动池和粉体剪切池）为此提供了一套完整的工具，可以确定各种粉体特性和加工参数。这套工具有助于描述粉体的特性，以及预测粉体在加工、处理和储存过程中的行为。软件中提供了多种专用的粉体测量斸�/p>

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