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| 量产型半自动/全自动探针台 | ||||
| 型号 | SA-6/SA-8/SA-12 | 外形 | 1500(长(/span>*1700(宽(/span>*1100(髗/span>) | |
| 重量 | 1700kg | 电力需汁/span>/功率 | 220VAC±10V/50Hz/2.2KW | |
| 规格参数 | 能够测试的晶圆直徃/span> | 6,??12“/span> | ||
| 晶圆厚度 | 300≤T?000um(标准)300?/span>T(薄片机型(/span> | |||
| 晶圆厚度偏差 | 50um | |||
| Indextime | 300ms(标准速度+/span>die尺寸10mm,包括Z上下0.3mm移动的时闳/span>) | |||
| Chuck具备5轴移动机枃/span> | '/span>X/Y/Z/theta/F(/span> | |||
| X-Y轴行稊/span> | 380mm,**速度300mm/s,分辨玆/span>0.1um | |||
| XY全行程机械定位精?/span> | ±2um(环境温度在±1°以内波动时) | |||
| XY**速度 | 300mm/s | |||
| Chuck平面?/span> | ?um | |||
| Z轴行稊/span> | 37mm,探针分离高?/span>0.3mm,速度30毫秒/0.3mm | |||
| Z轴移动解析度 | 0.1um | |||
| Z轴定位精?/span> | ±2um | |||
| Theta轳/span> | ±5°/0.0001° | |||
| 光栅尹/span> | 0.1um光栅尹/span> | |||
| 预对位平?/span> | 光学原理检测,平边或耄/span>notch±1°定位精度 | |||
| 晶圆机械扊/span> | 陶瓷机械手,cassette*1 | |||
| 晶圆装载单元 | 一个升降单元,预对位单元,晶圆传输子单元以及他们的接口 | |||
| 自动对位系统 | 自动水平扫描、自?*测试点定位、自动测试中心定佌/span> | |||
| 自动上下片系绞/span> | 料盒安全保护、晶圆定位边预对凅/span> | |||
| 精确对位单元 | patternmatching | |||
| 位移传感?/span> | 采用静电容传感器+/span>分辨玆/span>2um'/span>option) | |||
| 照明 | 同轴卤素灯照明或LED光源 | |||
| 视场 | 低倍情况:4.9*3.6mm中倍情况:1*0.72mm高倍情况:0.49*0.36mm | |||
| PC配置 | I5CPU+/span>4G内存+/span>128G固态硬盘等 | |||
| LCD显示?/span> | 对位显示为黑白,其他显示为彩色,中文 | |||
| 键盘 | 单元大小15*15mm,46字母数字 | |||
| 报警?/span>(三色?/span>) | 红,黄,绾/span> | |||
| 操作场地要求 | 2200mmX2200mm | |||
| 操作界面 | Windows中文操作界面,中斆/span>MAPING动态显礹/span> | |||
| 标记 | 上下标记,标记可以实时或者离线标记,标记耗时15~300ms,采?/span>ink或耄/span>Laser | |||
| 可以采用皃/span>cassette形式 | FOUP12/8/6?13或耄/span>25牆/span>):/span>lightFOUP12/8/6?13或耄/span>25牆/span>)+/span>12/8/6“/span>opencassette | |||
| 可选附仵/span> | 自动磨针?/span> | 可以兼容高频测试夳/span> | 晶圆ID识别功能 | |
| 可以匹配自动晶圆盒取放设备(AGVorOHT(/span> | 直接和晶圆传输控制电脑或者服务器通讯 | |||
| FOUP(frontopenunifiedPod)有别于普這/span>opencassette,带有洁净气体单元'/span>minienvironment),可以在晶圆传输过程保持洁净?/span>Class100洁净室里面,探针台内部可以达?/span>Class1‛/span>主体包括:控制盒+/span>TTL+/span>RS232+/span>GBIP测试机接叢/span> | ||||
| 特点 | ||||
| 超高的测试精度和超快测试速度 | 自动alignment/找晶圆中忂/span>/测量diesize | |||
| 支持单点测试和连续测诔/span> | 功能丰富的测试软仵/span> | |||
| 便捷的仪器接?/span> | 可升级自?/span>wafer厚度测量咋/span>ID读卡 | |||
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