探测器:
.加速电压:
.电子枪:
.电子光学放大9/p>.
光学放大9/p>.
分辨率:
.看了扫描电镜原位拉伸?MICROTEST系列的用户又看了
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扫描电镜原位拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用、/p>
GATAN公司MICROTEST系列样品台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形等),高分子材料等。通过扫描电镜对微观结构的形态变化进行原位成像,从而深入理解形态变化的原因并对变化时刻进行成像。结合对动态实验的信息可以克服对传统的应力/应变数据解释的不确定因素。针对拉伸、挤压和弯曲测试,我们提供很多款装置,负载范围从2N?000N、/p>
MICROTEST原位拉伸台针对SEM而特殊设计,有四个版本可以使用,200N?00N?KN?KN
MICROTEST系列拉伸台技术特点:
较大载荷范围?00N, 300N, 2000N ?000N
可更换的称量传感器量程小 2N
应变速率? μm/min 6 mm/min
可?- 点和 4-点水平弯曲附仵/p>
EBSD 样品专用附件
加热和水冷台上配备的定制钳口
简单的软件用户界面提供了实时定量数据曲线,结合灵活的阀值可以进行复杂的实验,包括循环负载、/p>
支持同步图像和数据采集。可以通过影响对样品变化过程进行细节分析、/p>
1、MICROTEST 200系列拉伸?/p>
动态测试台,在SEM内外都能操作。大200 N负载,可以进行拉伸、挤压操作,可配水平方向??点弯曲。MICROTEST 200B可以实现垂直三点弯曲、/p>
2、MICROTEST 300系列拉伸?/p>
动态测试台,在SEM内外都能操作。大300 N负载,可以进行拉伸、挤压操作,可配水平方向??点弯曲。MICROTEST 300B可以实现垂直三点弯曲、/p>
暂无数据
扫描电子显微镜(SEM)是一种应用于各个领域的高分辨率成像仪器,因其优异的表征性能和高分辨率的成像能力,广泛应用于食品微观结构的表征中。民以食为天,食品是日常生活中必不可少的一部分,而食品的微观结构不/p>