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Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微?TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析、/span>
全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , ?nbsp;200kV下EDS分析提供高质量数据、/span>
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·对低能量x射线的灵敏度可提?倌/span>
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