误差率:
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-仪器原理9/p>其他
分散方式9/p>-
测量时间9/p>-
测量范围9/p>-
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仪器介绍
HORIBA科学仪器部InGaAs阵列探测器,是近红外NIR弱信号探测的理想选择,拥有可以测量到0.8-1.7μm?-2.2μm的两种类型,制冷可以采用TE制冷或者液氮制冷的方式。可以与HORIBA Jobin Yvon光谱?*结合,为近红外光谱提供高灵敏度探测、/span>
主要特点9/strong>
1?nbsp;液氮制冷9/strong>可制冷到-103℃以降低暗噪声;
2?nbsp;高信号线性度9/strong>在整个动态范围内均可以获得高准确性的数据:/span>
3?nbsp;采集模式可选:通过软件可选择高灵敏度模式和高动态范围模式,以优化探测器获得好的信噪比;
4?nbsp;灵活的软件选择9/strong>与功能强大的SynerJY® 软件连接,可进行探测器和光谱仪的控制和数据采集。对更多的定制实验,可与软件开发工具包(SDK)或者LabVIEW® VIs结合,对探测器和测量过程各个方面的完全控制、/span>
规格
芯片规格 | 像素尺寸 | 光谱范围 | 制冷方式 |
512x1 | 25μm x 500μm | 800-1700nm@25ℂ/td> | TE制冷 |
512x1 | 50μm x 500μm | 800-1700nm@25ℂ/td> | TE制冷 |
1024x1 | 25μm x 500μm | 800-1700nm@25ℂ/td> | TE制冷 |
512x1 | 25μm x 500μm | 800-1700nm@25ℂ/td> | 液氮制冷 |
512x1 | 50μm x 500μm | 800-1700nm@25ℂ/td> | 液氮制冷 |
1024x1 | 25μm x 500μm | 800-1700nm@25ℂ/td> | 液氮制冷 |
512x1 | 25μm x 250μm | 1000-2200nm@25ℂ/td> | TE制冷 |
512x1 | 50μm x 250μm | 1000-2200nm@25ℂ/td> | TE制冷 |
1024x1 | 25μm x 250μm | 1000-2200nm@25ℂ/td> | TE制冷 |
512x1 | 25μm x 250μm | 1000-2200nm@25ℂ/td> | 液氮制冷 |
512x1 | 50μm x 250μm | 1000-2200nm@25ℂ/td> | 液氮制冷 |
1024x1 | 25μm x 250μm | 1000-2200nm@25ℂ/td> | 液氮制冷 |
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