一、仪器概�?/span>

AES-8000交直流电弧发射光谱仪采用高灵敏度CMOS作为检测器，波段范围内实现全谱采集，可广泛应用于地质、有色、化工等行业。无需样品溶解，对粉末样品直接进行分析，是难溶粉末样品中微量及痕量元素定性、定量分析的理想仪器方案、�/span>

二、典型应�?/span>

1－�/span>地质样品�?/span>Ag�?/span>Sn�?/span>B�?/span>Mo�?/span>Pb�?/span>Zn�?/span>Ni�?/span>Cu等元素的同时测定；也可用于地质样品中痕量贵金属元素的检测（分离富集后）：�/span>

2－�/span>高纯金属、高纯氧化物中几到几十种杂质元素的测定，粉末状样品如钨、钼、钴、镍、碲、铋、铟、钽、铌等；

3－�/span>陶瓷、玻璃、煤灰等难溶粉末样品中微量及痕量元素的分析、�/span>

地球化学勘查样品不可缺少的配套分析方案之一

高纯物质中杂质成分检测的理想选择

三、仪器特炸�/span>

高效的光学成像系绞�/span>

采用Ebert-Fastic光学系统及三透镜光路，有效去除杂散光，消除光晕及色差，减小背景，增强聚光能力，分辨率良好，谱线质量均匀，充分继承了一米光栅摄谱仪光路的优势、�/span>

◎�/span>光路结构紧凑，灵敏度高；

◎�/span>成像质量好，焦平面直：�/span>

◎�/span>倒线色散玆�/span>0.64nm/mm：�/span>

◎�/span>理论光谱分辨玆�/span>0.003nm(300nm)、�/span>

高性能线阵CMOS传感器及高速采集系绞�/span>

◎�/span>采用紫外灵敏CMOS传感器，灵敏度高，动态范围宽，温度漂移小；无需镀膜，无器件光谱增宽效应，无膜层老化问题、�/span>

◎�/span>基于FPGA技术的高速多CMOS同步采集及数据处理系统，在完成分析元素谱线自动测量的同时，还实现了同步谱线自动校准、背景自动扣除等功能、�/span>

交直流电弧激发光溏�/span>

交流、直流电弧切换方便，根据测试不同的样品，选择合适的激发模式，有利于提高分析测试效果。如非导电性样品选择交流模式，导电性样品选择直流模式、�/span>

电极自动对准

上下电极根据软件参数设置，自动运动到指定位置，激发完成后移开更换电极，操作方便，对准精度高、�/span>

方便的观察窗

**电极成像投影技术将激发过程全部显示在仪器前方的观察窗上，方便用户观察激发室内样品激发情况，有助于了解样品性质及激发行丹�/span>、�/span>

功能强大的分析软仵�/span>

●实时谱线自动校准，消除仪器漂移影响：�/span>

●背景自动扣除，减小人为因素的干扰；

●通过谱线分离算法，减小光谱干扰影响；

●多谱线测定自动切换，拓宽检测含量范围；

●两种拟合方式相结合，提高样品分析的准确度；

●丰富的谱线信息，拓宽分析应用领域；

●专用分析软件，适合不同样品测试需求、�/span>

●方便的数据后处理功能，缩短实验过程，数据处理更加灵活；

安全保护

●电极夹冷却循环水水流监控，避免电极夹高温烧损；

●激发室门安全连锁，保护操作人员安全、�/span>

四、仪器参�?/span>

光路形式	垂直对称弎�/span> Ebert-Fastic垊�/span>	电流范围	2~20A(交流) 2~15A(直流)
平面光栅刻线	2400杠�/span>/mm	激发光溏�/span>	亣�/span>/直流电弧
光路焦距	600mm	重量	�?/span>180Kg
理论光谱 分辨玆�/span>	0.003nm(300nm)	外形尺寸(mm)	1500(L)��820(W)��650(H)
倒线色散玆�/span>	0.64nm/mm(一�?/span>)	分光室恒�?/span>	35OC��0.1OC
采集系统	高性能CMOS传感�?/span> 基于FPGA技术的同步高速采集系绞�/span>	环境条件	室温15OC~30OC 相对湿度<80%