高分辨率三维计算机断层扫�? 紧凑型数字化X 光透视系统

特点９�/strong>

�� 高分辨率三维计算机断层扫揎�/p>

�� 实时高分辨率数字化X光透视

�� 纳米级分辨率配置可逈�/p>

�� 5-250um分辨玆�/p>

�� 大样品尺寸（直径 x 高度 �?20 mm x 420 mm（�/p>

�� 可编程自动控制重复扫揎�/p>

�� 样品位置记忆

�� 广泛的应用领域及产品分析

�� 铅及钢铁结构，X射线内锁定系绞�/p>

学术研究�� 材料科学 �� 地质，石�?燃气 �� 矿物&地矿 �� 自然&生命科学

主要行业

�� 汽车 �� 电子 �� 铸� �� 航空航天 �� 塑料注塑 �� 积层制� �� 医疗&齿科 �� 珠宝

主要应用

�� 度量 �� 尺寸控制 �� 逆向工程 �� 零件检� �� 组装分析 �� 失效分析 �� 材料内部分析 �� 壁厚分析