产品简今�/span>

可复制的结果

Leica EM TIC 3X三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面，用于扫描电子显微镜(SEM)、微观结构分枏�/span>(EDS�?/span>WDS�?/span>Auger�?/span>EBSD)咋�/span>AFM科研工作。使�?/span>Leica EM TIX 3X，您几乎可以在室温或冷冻条件下，对任何材料实现高品质的表面处理，尽可能显示样品近自然状态下的内部结构、�/span>

带来****的便利！

对于离子研磨仪的效率来说，真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量。与前代版本相比，全新版本不仅切割速度提高了一倍，其独特的三离子束系统还优化了制备质量，并缩短了工作时间。一次可处理样品多达3个，并可在同一个载物台上进行横切和抛光、�/span>

工作流程解决方案可安全、高效地将样品传输至后续的制备仪器或分析系统、�/span>

灵活的系绞�/span>–�/span>随时满足您的需汁�/span>

凭借可灵活选择的载物台＋�/span>Leica EM TIC 3X不仅是进行高产量处理的理想设备，还适用于委托检测的实验室。根据您的需求，可选择以下可互换的载物台对Leica EM TIC 3X进行个性化配置９�/span>

?标准载物�?/span>

?多样品载物台

?旋转载物�?/span>

?冷却载物台或

?真空冷冻传输对接�?/span>

用于制备标准样品、高产量处理，以及在低温条件下制备对高温异常敏感的样品，例如聚合物、橡胶或生物材料、�/span>

环境控制型工作流程解决方桇�/span>

凭借与Leica EM TIC 3X配套皃�/span>VCT对接台接口，可为易受环境影响的样品和/或低温样品提供出色的刨平工作流程，此类样品包�?/span>

?生物材料＋�/span>

?地质材料

?或工业材料、�/span>

随后，这些样品会在惰性气佒�/span>/真空/冷冻条件下，被传输至我们的镀膜系绞�/span>EM ACE600戕�/span>EM ACE900咋�/span>/戕�/span>SEM系统、�/span>