使用奥林巴斯 LEXT OLS5000 激光扫描共焦显微镜，能够通过非接触、非破坏的观察方式轻松实� 3D 观察和测量。仅需按下“Start（开始）”按钮，用户就能在亚微米级进行精细的形貌测量。该产品不仅易于使用，更具备先进功能，能够提供四倍于上一代型号的采集速度。对于需要观察大型样品的客户，LEXT 的长工作距离物镜和选配的扩展机架使得系统能够适用于为 210mm 的样本、�/span>

激光共聚焦显微镜OLS5000可观察纳米范围的台阶，并可测量亚微米级别的高度差。还可以测量从线到面的表面粗糙度。配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像、�/span>

激光共聚焦显微镜OLS5000

�?大关键价值：

• 捕捉任意表面形状、�/p>

• 快速获得可靠数据、�/p>

• 使用简� - 只需放置样品并按一下按钮即可、�/p>

• 测量具有挑战性的样品、�/p>

价�?：捕捉任意表面形状、�/strong>

OLS5000显微镜的先进技术使其能够进行高分辨率的3D样品测量、�/p>

价�?、快速获得可靠数�?/strong>

该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度，从而缩短您的扫描时间，简化您的工作流程，实现生产力的提升、�/p>

价�?、使用简单，只需放置样品并按一下按钮即�?/strong>

LEXT? OLS5000显微镜具有自动数据采集功能，因而无需进行复杂的设置调整� 甚至生疏的用户也可以获得准确的检测结果、�/p>

价�?、可测量具有挑战性的样品

低输出、非接触式无损激光测量意味着不需要样品制备。可以在不损坏易损性材料的情况下对其进行测量。扩展架可容纳高�?10毫米的样品，而超长工作距离物镜能够测量深度可�?5毫米的凹坑。在测量这两类样品时，您只需将样品放在载物台上即可、�/p>

激光共聚焦显微镜OLS5000获取彩色信息

彩色成像光学系统使用利用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息、�/p>

[获取3D 高度信息和高分辨率共焦图像]

激光共焦光学系统采�?05纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。浅焦深使其能够用于测量样品的表面不规则性、�/p>

激光共聚焦显微镜OLS5000405纳米激光光溏�/strong>

光学显微镜的横向分辨率随着波长的减小而获得提升。采用短波长激光的激光显微镜相比采用可见光（峰�?50纳米）的传统显微镜具有更优的横向分辨率� OLS5000显微镜利�?05纳米短波长激光二极管获得**的横向分辨率、�/p>

激光共聚焦显微镜OLS5000激光共焦光学系绞�/strong>

激光共焦光学系统仅接收通过圆形针孔聚焦的光线，并非采集从样品上反射和散射的所有光线。这样有助于消除模糊，让其能够获得比普通显微镜对比度更高的图像

激光共聚焦显微镜OLS5000X-Y扫描�?/strong>

OLS5000显微镜配有奥林巴斯光学扫描仪。通过将采用电磁感应MEMS谐振扫描仪的X轴与采用Galvano扫描振镜的Y轴相结合，能够让X-Y扫描仪定位于相对物镜瞳镜共轭的位置，因而能够实现具有较低扫描轨迹失真和较小光学像差�?*X-Y扫描、�/p>

激光共聚焦显微镜OLS5000高度测量原理

在测量高度时，显微镜通过自动移动焦点位置获取多个共焦图像、�/p>

根据非连续的焦点位置（Z）和检测光强度（I）可以估算每个像素的光强变化曲线（I-Z曲线），并获得其峰值位置和峰值强度。由于所有像素的峰值位置与样品表面的不规则性相对应，因此可以获得样品表面的3D形状信息。与此类似，通过峰值强度数据可以获得针对样品表面所有位置焦点的图像（扩展图像）、�/p>