 
       
         
          
            
            
           误差率:
?%分辨率:
0.1μm重现性:
1%仪器原理9/p>图像分析
分散方式9/p>湿法分散
测量时间9/p>30min
测量范围9/p>0.5-3000µm
看了颗粒图像测试仪的用户又看亅/p>
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产品介绍
JX-2000B图像分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。因为粉体形态各异,在借助激光粒度仪测试的同时,选用颗粒图像分析仪,可以更准确的直观粒度形貌,控制好产品质量、/span>
应用领域
1、金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉:
2、玻珠、水泥、药品、食品、颜料、粉尘、农药、催化剂等各种粉体或浆料、/span>
3、也可以用于验证其他粒度测试的手段和方法、/span>
参数指标
| 序号 | 项目 | 指标 | 
| 1 | 分析项目 | 粒度分布、长径比分布、圆形度分布筈/span> | 
| 2 | 浊/span>试范図/span> | 0.5?000μm | 
| 3 | 放大倍数 | ?000倌/span> | 
| 4 | 光学放大倍数 | 1600倌/span> | 
| 5 | 分辨玆/span> | ?.1μm | 
| 6 | 显微镛/span> | 透反射显微镜(可选配国产/金相/进口(/span> | 
| 7 | 数字摄像?CCD) | 300万像?500万像紟/span> | 
| 8 | 目镜 | 10X ?6X | 
| 9 | 物镜 | 4X?0X ?0X 40X?00X | 
| 10 | 标尺刻度 | 10μm | 
| 11 | 软件运行环境 | Windows7 32佌/span> | 
| 12 | 接口方式 | USB接口高速稳定传辒/span> | 
仪器优点
1. 软件分析与处理功胼/span>
1.1 通过图像分析软件可直接观察显微镜下的颗粒形貌,并进行图片采集。图片可保存为JPG或BMP格式;软件采集图像后可调整图像高度、宽度、分辨率等。根据不同倍数物镜采集的图像可设置相应标尺或网格,直观颗粒大小、/span>
1.2 自由切换粒径单位,标尺支持多种单位选择,可在微米和毫米、厘米、英寸之间自由切换,方便小颗粒和大颗粒的进一步处理、/span>
1.3 图像分析处理
1.3.1 色调处理:灰度化、色调调整、亮度、对比度调整:/span>
1.3.2 图像矫正:水平镜像、垂直镜像?0度(逆时针)?0度(顺时针)、旋转、放大、缩小?/span>任意比例缩放等;
1.3.3 测量单位:微米、毫米、厘米、英吋(任选):/span>
1.3.4 图像增强:对比度均衡、膨胀、腐蚀等;
1.3.5 图像处理:图像锐化,边缘平滑,二值化,面积滤波、边界滤波,分析目标擦除、孔洞填充,手工擦除,手工连接,粒子属性查看等功能:/span>
1.4 可以对多幅图形进行批量处理,增加颗粒数量,提高样品的代表性,使处理结果更加准确、真实、可靠、/span>
1.5 软件功能强大,可根据行业特殊要求,设计磨料、硅灰石等专用软件、/span>
2.报告输出
2.1 通过对图像进行处理后,电脑自动统计出颗粒个数、面积、周长、体积、直径、圆形度分布、长径比分布、粒度分布数据,以及D10、D50、D90、D97、平均粒径、表面积等特征值、/span>
2.2 可将样品彩色缩略图显示到报告中,样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头,可选多种报告格式、/span>
JX-2000型颗粒图像分析仪,能准确直观颗粒形貌,并进行颗粒数据处理,适用于控制分析产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像机、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成
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                          振实密度是经过振动后的密度。具体来讲,它是粉体质量的重要指标,振实密度测量,是指将一定量的粉体装入容器中,在一定条件下规律振动,尽量压缩颗粒之间的空隙,最终达到颗粒之间的空隙无法在缩小的程度。当容器?/p>
 
                           崩溃角是指在测量休止角之后,给堆积的粉体以一定的外力冲击,导致堆积粉体的自由表面产生崩塌现象。崩塌后,堆积粉体的表面与水平面之间的夹角被称为崩溃角。这个角度的大小反映了粉体的物理性质和受力情况,一
 
                           测量粉体的比表面积通常使用比表面积分析仪(也称为比表面积及孔径分析仪、比表面积测试仪、比表面积测量仪)。其中,气体吸附法(BET法)是一种常用的测量方法。以下是使用气体吸附法测量粉体比表面积的步骤:样
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