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JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术
利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能
JEM-2100F**设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移
SJEM-2100F可与TEM MDS EDS EELS and CCD-camera实现一体化控制、/p>
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