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OLED/QLED 发光器件寿命测试系统
32 路系64 路系绞/p>
OLED/QLED 发光器件寿命测试系统参数
| 项目 | 关键指标 | 备注 | 
| 通道数量 | 32?4?28 | 可扩展到512 ?/span> | 
| 测量模式1 | 恒流、恒压、恒亮度 | 需根据客户需求选定 | 
| 测量模式2 | Pulse 电压、Pulse 电流 | 选配 | 
| 电流输出 | 0.03uA~100mA,精度优?#177;1% | 用户参照核心技术电流源选配 | 
| 电压输出 饱和亮度 | 1.0~20V,精?1% 通常10000cd/m2以上 | 标配 可根据客户需求定刵/span> | 
| 器件结构 | 底发光、顶发光、倒装、正裄/span> | 需根据用户需求定刵/span> | 
| 测试? 夹具 | 测试基片尺寸 5cm5cm | 可定制支?0cm20cm | 
| 高温测试 | RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;环境测试 | 选配 | 
| 特殊条件 | 特殊气氛测试;手套箱测试;UPS 电源筈/span> | 选配、定刵/span> | 
| 软件平台 | LabView | 稳定、高敇/span> | 
暂无数据
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