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薄膜硅涂布量测试?/span>YL-X300
离型膜硅涂布量测试仪 越联仪器生产
设备的测试原理：
YL-X300通过软件程序控制，让X射线发生路产生适合的X射线去激发测试薄膜材料中的S或者其他元素，被X射线激发后变为不稳定态，高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收，因每个元素都有自已特定的能量特征线，通过探测器的识别，计算机软件的计算，即可准确识别该元素，并计算出含量、/span>
YL-X300采用了大面积的晶体硅漂移探测器，分辨率能够达?/span>125eV，能分辨A(?元素和Si(?元素、/span>
设备优势及特点：
1、测试采 射线荧光光谱原理，测试过程无需耗材：/span>
2、光管垂直照射，硅元素性能得到更强激发；
3、测试下限好，可准确测量0.1g/m的涂硅量；‘/span>
4、采用大面积硅漂移探测器，测试结果极其准确；
5、快速采用新的模型算法，大大提高了轻元素的测量稳定性；
6、配置高清液晶显示器，测试过程和测试结果一目了然；
7、设备集成多个usb接口。数据和通讯传输满足多种要求：/span>
8、空气光路的内部环境得到显著优化，大气环境一样可以直接测试；
9、一键测试，操作简单智能，测试过程使用时间更短，结果更准确、/span>
应用方向及领域：
1、各种薄膜、离型膜、淋?I等硅油涂布量的测定；
2、各种薄膜生产过程中Si、AI元素等比例量的测定；
3、电子产品S硫化物的残留余量的测定；
4、电子产品保护膜硅油残余量的测定、/span>
尺寸: |
467370336(mm) |
重量: |
40kg |
适用范围: |
薄膜、硅油涂市/span> |
样品腔尺: |
310248124(mm) |
暂无数据
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