看了OLED TOF测试系统的用户又看了
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飞行时间法(TOF)测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键,T3000飞行时间测量系统基于
脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研?
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- 低温测量
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