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延时采集场测试系?Time Delayed Collection Field Test System)是用于TDCF实验的装置。为了测量样品在纳秒级的瞬态电流，配置了高性能脉冲激光器和高速脉冲发生器。该系统允许用户显示光电器件的动态特性，并通过偏压控制实验、不同的纳米尺度延迟和不同的脉冲波长提取电荷载流子产生、提取和复合的参数、/span>
主要用于有机半导体测试：
Time Delayed Collection Filed Test System (TDCF)
电荷迁移率测 (TOF)
瞬态光致发先span>(Tr-PL)
瞬态电致发 (Tr-EL)
暂无数据
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