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新型的全自动薄膜测量分析工具，工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案、/p>
技术参数：
光谱范围?50-1000 nm
多种微光斑自动选择
**光斑可视技术，可观测任何样品表靡/p>
CCD探测?/p>
自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节; Z轴高?35mm
70度角入射
主要特点９/strong>
完全自动化设计，一键式操作，直接报告输凹/p>
液晶调制技术，测量光路中无运动部件
CCD探测系统，快速全谱输凹/p>
多个微光斑尺寸选择?*可视技?/p>
封闭式样品仓
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移动?/p>
工商已核宝/p>
