开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函�?Work Function)或半导体、绝缘表面的表面�?Surface Potential)、�/span>

材料表面的功函数通常�?上层皃�/span>1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一�?灵敏的表面分析技术、�/span>

我们的开尔文探针系统包括９�/span>

□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环�?：�/span>

□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环�?：�/span>

□超高真�?UHV)开尔文探针：�/span>

□湿度控制的腐蚀开尔文探针：�/span>

扫描开尔文探针系统

ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相�?TFT显示器�?毫米�?0微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：

�?毫米�?0微米探针：�/span>

□功函数分辨� 1-3 meV(2毫米针尖)�?-10 meV(50微米针尖)：�/span>

□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内：�/span>

□表面势和样品形�?维地图；

□探针扫描或样品扫描选配：�/span>

□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；

□参考样�?带相应的扫描开尔文探针系统的形�?：�/span>

□备用的针尖放大器；