日本nps片状电阻率测定器Model sigma-5+-参数-价格-中国粉体网

核心参数

探测器：
不限
加速电压：
不限
电子枪：
不限
电子光学放大：
不限
光学放大：
不限
通道数：
不限
误差率：
不限
波长准确度：
不限
灵敏度：
100
分辨率：
400
重现性：
300
仪器原理：
其他
分散方式：
100
测量时间：
不限
测量范围：
300

技术参数

测量范围：10⁻²至10⁶Ω。
样品尺寸：**300mm见方。

功能与应用

应用领域广泛：适用于金属、金属薄膜、导电涂层、导电薄膜、片材等多种材料的电阻率测量。
膜厚和成分变化检测：导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。
电子元件和材料开发：可用于电子元件和材料的开发和质量控制。

创新点

宽测量范围：可连接到Loresta GX，测量范围为10⁻⁴至10⁷Ω。
比较器功能：在屏幕上标注范围外的测量结果的测定点。
粉末测量功能：要测量粉末的体积电阻率，只需将样品放入探头单元并将其放置在设备中即可。该装置施加给定的压力，同时测量粉末的电阻率和压制密度。
技术参数
测量范围：10⁻²至10⁶Ω。
样品尺寸：最大300mm见方。
功能与应用
应用领域广泛：适用于金属、金属薄膜、导电涂层、导电薄膜、片材等多种材料的电阻率测量。
膜厚和成分变化检测：导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。
电子元件和材料开发：可用于电子元件和材料的开发和质量控制。

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