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型号
A5-SR系列显微式反射式膜厚测量?/span>品牌
昆山胜泽产地
江苏样本
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A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜。具体包括但不限于氧化硅,氮化硅,多晶硅,PI,光刻胶等透明半透明的材料,测量范围?0纳米?0微米。光斑小?0微米。A5-SR系列可根据客户给出的Die分布图和标记,对整个硅片进行自动寻找,自动测量、/span>
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