参考价栻/p>面议
型号
四探针薄膜厚度测试仪品牌
趉/span>产地
河南样本
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简单介绍：
四探针测试仪用于半导体、薄膜、导电涂层等材料的电学性能测试。四探针薄膜厚度测试仪核心作用是消除接触电阻和引线电阻的影响，从而获得更准确的测量结枛/p>
详情介绍９/p>
四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置，配上专用的四探针测试架，就可以测量片状，块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。四探针测试架有电动，手动，手持三种可以选配，另外还配有四个夹子的四线输入插头用来作为测量线状或片状电阻 中，低阻阻?
四探针测试仪（Four-Point Probe）是一种用于测量材料电阻率（resistivity）和薄层电阻（sheet resistance）的高精度仪器，尤其适用于半导体、薄膜、导电涂层等材料的电学性能测试。其核心作用是消除接触电阻和引线电阻的影响，从而获得更准确的测量结果、/p>
典型应用场景９/p>
半导体行业：硅片、GaAs等晶圆的电阻率测试。掺杂工艺后的电学性能验证、/p>
薄膜材料：ITO（透明导电膜）、太阳能电池薄膜、金属镀层的薄层电阻测量、/p>
科研领域：纳米材料（石墨烯、碳纳米管）、有机半导体材料的导电性分析、/p>
工业生产：液晶显示（LCD）、柔性电路（FPC）的导电涂层质量控制、/p>
四探针测试仪技术参数：
产品名称 |
四探针测试仪 |
|
产品型号 |
CY- SZT |
|
测量范围 |
电阻玆/span> |
10⁻⁴-105?/span>-cm |
方块电阻 |
10⁻⁴- 105?/span>/■/span> |
|
电阻 |
10-/span>- 105?/span> |
|
可测半导体材尺寸 |
盳/span>徃/span> |
Ф15-100mm |
长（或高）度 |
≣/span>400mm |
|
测量方位 |
轴向，径向均?/span> |
|
数字电压?/span> |
量程 |
20mV,200mV,2V |
误差 |
±0.5%读数±2孖/span> |
|
输入阻抗 |
>10⁷/span>?/span> |
|
分辨玆/span> |
10μV |
|
点阵液晶显示 |
过载显示 |
|
恒流溏/span> |
电流输出 |
共分10μA,100uA,1mA,10mA,100mA五挡可通过按键选择，各挡均为定值不可调节，电阻率探头修正系和扩散层方块电阻修正系数均由机内CPU运算后，直接显示修正后的结果 |
?/span>?/span> |
±0.5%±2孖/span> |
|
四探针测试头 |
跜/span> |
1mm |
探针机械游移玆/span> |
±1.0% |
|
採/span>钇/span>杏/span>斘/span> |
碳化?/span>(或高速钢),Ф0.5mm |
|
甴/span>溏/span> |
交流 |
220V±10% |
功耖/span> |
<35W |
|
暂无数据
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