参考价栻/p>面议
型号
ParticleX Battery锂电清洁?/span>品牌
飞纳产地
荷兰样本
暂无电子光学放大９/p>200,000×
光学放大９/p>27?60×（彩色导航）
分辨率：
优于 8 nm探测器：
背散射探测器，二次电子探测器（SED）可选，EDS可逈/span>加速电压：
基本模式? kV / 5 kV / 10 kV / 15 kV / 20 kV 高级模式?.8?0.5 kV 连续可调，用于成像与元素分析电子枪：
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ParticleX Battery 锂电清洁度分析系绞/strong>是一款面向锂离子电池材料与电池制造环节的全自动清洁度分析设备。系统基于扫描电镜（SEM）与能谱分析（EDS）技术，可对锂电江strong>正极与负极材料中的铁类及多种金属杂质颗粒进行快速识别、成分分析与分类统计，帮助企丙strong>精准确认磁性杂质来溏/strong>，从而持续优化生产工艺与质量控制流程、/p>
系统采用3000h 长寿 CeB6 晶体灯丝与多项高通量设计，支?strong>无人值守的全自动运行，并提供定制化分析流程与报告输出，兼顾分析准确性、稳定性与操作便捷性，适用于研发、来料检测、过程控制与失效分析等多种应用场景、/p>
锂离子电池的安全性与一致性高度依赖正负极材料的洁净程度、br/>当材料中存在铁（Fe）、铜（Cu）、铬（Cr）、镍（Ni）、锌（Zn）、银（Ag）等金属杂质颗粒时，电池在充放电过程中可能发生以下风险：
金属杂质在正极发生氧化，在负极还原并逐渐沉积
沉积形成的金属颗粒棱角坚硬，可能刺穿隔膜
引发自放电、容量衰减甚至安全事敄/strong>
正负极材料中的金属与磁性杂质同样会显著影响电化学性能，成为锂电池可靠性与安全性的关键隐患。因此，建立可追溯、定量化、自动化的清洁度检测体糺/strong>，已成为锂电行业的重要质量控制手段、/p>
传统人工或半自动检测方式存在效率低、主观性强、重复性差等问题，难以满足规模化生产需求、/p>
ParticleX Battery 全自动锂电清洁度分析系统通过以下方式解决这一难题９/p>
全自动扫描正负极样品区域
自动识别铁类及磁性杂质颗粑/p>
定量统计杂质皃strong>形貌、尺寸、数量与元素组成
通过数据结果，快速判?strong>杂质来源对应的生产环芁/strong>（如原料、设备磨损、工序污染等（/p>
整个分析过程无需人工干预，结果客观一致，显著提升分析效率与决策可靠性、/p>
常见清洁度检测方案往往只是能谱软件中的固定功能，参数调整空间有限，难以应对复杂或特殊应用场景、/p>
ParticleX Battery 是一奖strong>独立运行的全自动分析系统
，支持根据客户需求进行深度定制，包括９/p>自动分析流程设置
杂质分类与判定规刘/p>
统计逻辑与阈倻/p>
检测报告模板与输出格式
在实际应用中，系统已与锂电龙头企业共同合作，形成可复用的锂电清洁度检测标准，便于上下游供应商统一对标与质量协同、/p>
每个项目均可形成针对性的锂电清洁度解决方桇/strong>真正服务于研发、量产与供应链质量协同、/p>
传统钨灯丝寿命短（约 100 小时），且存在突然熔断风?/p>
CeB6 晶体灯丝寿命 3000 小时
灯丝老化过程中亮度稳定，不会突发中断分析流程
这一特性对长时间、无人值守的自动化杂质分析尤为关键，显著提升系统稳定性与数据可靠性、/p>
100 × 100 mm 大尺寸样品台，支持多样品同时检浊/p>
三仓分离真空系统，抽真空时间 < 1 分钟，换样效率高
全自动电动马达台，位置移动快速、精准、可重复
整体设计充分满足锂电行业寸strong>高效率、批量化清洁度分枏/strong>的需求、/p>
软件深度调用硬件权限，针对自动分析进行专项优匕/p>
SEM EDS 一体化设计，工作距离一致，避免频繁调节
电镜与能谱系统由同一体系支持＋strong>售后与维护责任清?/strong>
有效降低使用门槛与运维成本，提升长期使用体验、/p>
锂电正极 / 负极材料清洁度检浊/p>
磁性杂质来源分枏/p>
锂电材料来料质量控制
生产过程监控与工艺优匕/p>
电池安全与失效分枏/p>
复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有专业的服务团队，提供优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超 2000 名用户、/span>
暂无数据
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2020-12-21
德国洪堡大学、BAM 材料研究院和 KIT 的科研团队在 Nature Communications 上发表了一项突破性成果《A partially disordered crystallograph
2006 G1 面世，到如今第七代旗 Phenom P 系列 G7 正式发布（Phenom ProX G7，Phenom Pro G7，Phenom Pure G7），19 年?/p>
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移动?/p>
工商已核宝/p>
