X射线仪器
DPAI-VSDDE-Pro
国产X射线仪器
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DPAI-VSDD-Pro 代表*⾼性能的X射线硅漂移探测器，可在极低的成形时间下实现高分辨率。该探测器能够以极⾼的能量分辨率实现极⾼的计数率应⽤，它的高性能、小尺寸使其在X荧光光谱分析中得到⼴泛的应⽤、/p>
产品描述?nbsp;
125eV FWHM 分辨 @ 5.9 keV
⾼峰背⽐: 15,000:1
感光⾯积?0 / 30 / 50mm² × 450 μm
*⼤输⼊计数率?000KCPS
USB接⼝, RS232接⼝, Ethernet 接⼝?000M可选）
纳秒级复位时?nbsp;
谱图刷新?000??nbsp;
⾃锁航空插座
IP地址、波特率等通讯参数可设?nbsp;
⽀?种接⼝远程固件升级（⽆需断电?nbsp;
⽆需液氮制冷
极限真空 10-7Torr
产品应用?nbsp;
X-Ray Fluorescence X射线荧光光谱?nbsp;
RoHS / WEEE Compliance XRF
OEM 及其特殊应⽤
在线分析检?nbsp;
科研
规格参数概述
| 垊/td> | VSDD-Pro数字多道探测?/td> |
| 感光⾯积 | 20 mm²/ 30mm² / 50mm² （可选） |
| ?/td> | 450µm |
| @5.9keV(Fe55) | 125?40eV FWHM 达峰时间1µs |
| ⾼峰背⽐ | 15,000:1 |
| 窗⼝厚度 | 1µm / 8µm (Graphene/Be) |
| ?/td> | 多内层准直器 |
电荷灵敏?nbsp; 前置放⼤?/p> |
定制设计，带复位功能 |
| 增益稳定?/td> | <20 ppm/°C（常规） |
| 极限真空 | 10-7Torr |
| 溏/td> | 4.5-9VDC |
| 朞/td> | 1 平/td> |
| 设备⽣存朞/td> | 通常5-10年，视使⽤情况⽽宙/td> |
| 保存及运辒/td> | 常规保存：温度：-10?30 湿度?0%-90%（⾮凝结环境下） |
| 工作环境 | 0?50ℂ/td> |
准直器的使⽤
⼤多数探测器都装有内部准直器，以提⾼光谱质量。X射线在探测器有效区域边缘附近相互 ⽤，可能会由于部分电荷收集⽽产⽣逃逸峰 在某些应⽤中，这些逃逸峰会影响感兴趣信号。内部准直器将X射线限制在产⽣完整信号的 效区域内。准直器可根据探测器类型改进峰背⽐（P/B）、消除逃逸峰和改善准直器⼲扰峰、/p>
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移动?/p>
工商已核宝/p>
