参考价栻/p>1万元以下
型号
TA 系列品牌
产地
日本样本
暂无森泽波谱仪器
森泽TA 系列
国产波谱仪器
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采用激光的非接触式测量
只需放置样本的简单操佛/span>
可指定测量位置，具备极高的样品形状自由度
从有机薄膜到钻石的广泛测量范図/span>
易于设置条件?*值测量方弎/span>
可进行水平方向与垂直方向的测 能够确认样品的各向异?/span>
可从热扩散率转换为热导率与热渗透率
可进行分布测 评估样品的缺陷与不均匀?/span>
| 样本 | 热扩散率[m2s-1] | |
|---|---|---|
| 测定倻/span> | 参照倻/span> | |
| 稳定匕/span>氧化锅/span> | 1.1×10-6 | 1.2×10-6 |
| 氧化铜/span> | 12×10-6 | 12×10-6 |
| 锖/span> | 37×10-6 | 35×10-6 |
| 硄/span> | 89×10-6 | 88×10-6 |
| 铛/span> | 110×10-6 | 120×10-6 |
| 铵/span> | 170×10-6 | 170×10-6 |
| 多结晵/span>钻石 | 720×10-6 | 400?80×1-6 |
蓝宝石?/span>钽?/span>钼?/span>铝?/span>锶钛酸盐?/span>不锈钢（SRM1461）?/span>一般树脂?/span>等方性石?/span>氮化铝（AlN）?/span>氮化硅（SiC）等
| TA35 | TA33 | TA32 | TA31 | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 测定对象 | 热扩散率 | ||||
| 测量范围 | 0.1 1000[×10-6m2s-1] | ||||
| 输出数据 | 频率、距离、振幅、相位、厚 [TXT格式] | ||||
| 测定模式 | 垂直方向 | ◊/span> | ◊/span> | ，/span> | ◊/span> |
| 水平方向 | ◊/span> | ◊/span> | ◊/span> | ，/span> | |
| 分布测定 | ◊/span> | ，/span> | ，/span> | ，/span> | |
| 附属其他 | 温度调制加热?/span> | 选项 | 选项 | ，/span> | ，/span> |
| 对焦调整 | 汽车 | 汽车 | 手册 | 手册 | |
| 控制・分析软仵/span> | ◊/span> | ◊/span> | ◊/span> | ◊/span> | |
| PC | ◊/span> | ◊/span> | ◊/span> | ◊/span> | |
| 测定环境 | 测定温度 | 室温 | |||
测量温度 （安装加热器时） |
RT 300[℃] | ，/span> | |||
| 测定频率 | 0.01[Hz] 100[kHz] | ||||
| 半导体激光器 | 波长 | 808[nm] | |||
| 出力 | 1.5[W] | ||||
| 放射温度讠/span> | 素子 | InSb | |||
| 冷却方法 | 液氮 | ||||
| 舞台活动区域 | 检测阶殴/span> | ±5[mm] | ±5[mm] | ±5[mm] | ，/span> |
| 试样舞台 | ±10[mm] | ，/span> | ，/span> | ，/span> | |
| 重复精度 | ±5[%] | ||||
| 电源 | 交流电：100-240V?0-5A?0/60Hz | ||||
| 激光安?/span> | 一类激光产?br style="box-sizing: border-box;"/>IEC/EN 60825-1:2007 | ||||
| 测定对象 | 固体材料（树脂・玻璃・陶瓷・金属・钻石等（/span> |
|---|---|
| 试样外形 | 不定形也可以 |
| 表面形状 | 没有极端的凹凸（能够规定厚度即可（/span> |
| 表面处理 | 需要进行黑化处理（碳基材料中有时则无需此步骤）、/span> |
| 试样尺寸 | **?00 × 100 × 2 [mm] *小：10 × 10 × 0.015 [mm] |
| 参照试样 | 不要 |
区别激光闪射法需要喷碳、贴热电偶；激 + 红外全程不触碰试样，1μm 超薄高分子膜、石墨烯涂层、易碎陶瓷片可重复多次测试，无损耗、无表面污染
大尺寸陶瓷无损检测主力日本日立HITACHI FS LINE（混合型）超声波成像装置在先进陶瓷、复合靶材、精密陶瓷构件的生产与研发过程中，内部微裂纹、层间剥离、微孔聚集、界面脱粘等隐性缺陷，是导致产?/p>
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移动?/p>
工商已核宝/p>
