参考价栻/p>1-5万元
型号
SDSⅢ系刖/span>品牌
产地
日本样本
暂无森泽无损检?无损探伤仪器
森泽 SDSⅢ系刖/p>
国产无损检?无损探伤仪器
看了日本KJTD SDSⅢ系 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备的用户又看亅/p>
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SDS 系列是日 KJTD 开发的全自动水浸式全数字超声波探伤成像系统，搭载自 HIS3 高速宽带超声波探伤主机。设备采用水浸耦合 + 高精 XYZ 扫描机构，扫描过程可实时输出 A/B/C 扫描图像，实现材料内部缺陷可视化成像。可检出内部裂纹、孔洞、分层、脱粘、空洞等缺陷，完成异种材料结合界面评价。适配半导体器件、精细陶瓷、复合材料、金属焊接件、航空零部件等试样，支持实验室研发检测，也可配置大行程机型用于小批量工件检测。整套系统基 Windows 平台运行，可完成缺陷成像、尺寸测算、数据存储与回放分析，属于非接触式无损检测设备，无需破坏被测样品、/p>
SDS?轴高精度扫描仪拥有丰富的扫描模式，通过起始点和结束点的两点设定，即可自动确定扫描参数、/span>
| 超声波探伤器 HIS5 MF | 脉冲星输凹/span> | -200V （无负荷（/span> |
|---|---|---|
| 脉冲下降时间 | 1.2ns以下 | |
| 接收器带宼/span> | 1.0?50MHz | |
| 增益调整范围 | 0.0?5.0dB/0.25dB | |
| 光束路径测量 | 0?0.96 微秒 | |
| CPU控制 | 以太罐/span> | |
| 扫描仪（6轴扫描仪标准配置（/span> | 扫描范围(mm) | X?00mm、Y?00mm、Z?00mm 旋转台直径?00 θ1/110°，?/±45° |
| 扫描速度 | ?00mm/s、/span> | |
| 扫描间距 | 0.01?.99mm/s。（X-Y-Z（br style="box-sizing: border-box;"/>0.02?.98°（R：转盘） | |
| 扫描模式 | 平面、侧面、斜面、R面（鱼板形）、圆柱、球面、连?/span> | |
| 其他 | 扫描区域教学，摇杆遥控功胼/span> | |
| 扫描仪（6轴扫描仪为标准配置） | 数据收集点数 | ?00,000,000点（单次扫描录制（/span> |
| 数据保存 | ①HDD ②DVD-RW ③USB接口 | |
| 设定条件保存 | HD（探伤器与扫描仪设置）及其他 | |
| 图像处理软件 | 色调表示９/span>
回声评估９/span>
实时处理９/strong>
支持局域网连接 |
【产品检测】汽车、飞机、电子元件、靶材、新型材斘/span>
自研 HIS3 高速宽带超声探伤单元，频带覆盖范围宽，可适配多种探头，回波信号采集速度快，弱缺陷信号捕捉能力强，微小缺陷检出灵敏度
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