参考价栻/p>1万元以下
型号
FT-D210NL/FT-D210NLT品牌
产地
日本样本
暂无误差率：
≤?.5% FS分辨率：
0.1%重现性：
≤?.2%分散方式９/p>红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
测量时间９/p>0?9min可调
测量范围９/p>20?00μm
森泽粉体特性测试仪
森泽 FT-D210NL/FT-D210NLT
国产粉体特性测试仪
看了日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用的用户又看亅/p>
留言询价
咨询日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘?/p>
使用微信扫码拨号
该设备为日本 Fujiwork 富士研发的薄膜厚度连续测量仪器，分为两款机型，FT‑D210NL 适配 20?00μm 薄膜，FT‑D210NLT 夹头式结构适配 500?000μm 厚膜、复合膜材料。无需引线，直接从薄膜边缘送入即可完成连续厚度检测，可对接分切机等产线，也可用于实验室离线检测。分辨率可达 0.1μm，测量压力恒 0.45N±0.25N，保障测量条件统一；机身紧凑型设计，自带显示面板，支持 PC 软件采集、记录、导出厚度曲线数据，可搭配打印机输出报告，适用于塑料膜、复合包装膜、铝箔膜等各类卷材厚度检测场景、/p>
无需引线，即可从薄膜边缘开始连续进行厚度测量的**型号９/span>
FT-D210NLT采用夹头式结构，可用于测量较厚的材料、/span>
※标准套装中不包含电脑主机及图表打印机。※上述照片所示为FT-D210NL、/p>
●重复精?FT-D210NL?.2μm ?
FT-D210NLT?.4μm ?
●测量分辨率/0.1μm
●测量精?FT-D210NL?μm以下※测量头精度
FT-D210NLT?μm以下※测量头精度
●测量范?FT-D210NL?0μm~500μm?
FT-D210NLT?00μm~3000μm?
●测量压?0.45N ±0.25N
●支持专用软件的PC控制功能
●尺?260(H)×300(W)×300(D)mm（主体部分）
●重??1kg（主体部分）
●电?AC100V（支持定制，可更换为AC100?40V；测量分辨率可调?.1（/p>
●选配?•可更换测量探头 •电脑端μm •图表打印机
?：此数值为通过升降器对测量探头进行上下重复测量时的精度值、/p>
?：根据被测物体的材质，测量范围可能会有所变化、/p>
无引线边缘测量结构，薄膜无需穿引缠绕，直接边缘进料，换样简单，规避薄料拉扯损伤问题，适配产线在线取样检测
摘要日本PRIMIX拥有近百年流体均质设备研发经验，旗下MARK 20加压式高温高压高速乳化分散机，是针对高温密闭反应、高熔点物料、高压纳米分散开发的专用设备。设备集成双端面高压机械密封、模块化髗/p>
摘要随着难熔金属、陶瓷复合材料、半导体靶材、新能源粉体及先进碳材料技术的快速迭代，传统电阻式高温炉存在升温慢、温场不均、极限温度低、耗材寿命短、真空气氛兼容性差等短板，已无法满足高端材料烧结、提纯、碳
真空手套箱是隔绝水氧、实现惰性气氛密闭操作的核心设备，广泛应用锂电、有机合成、半导体、金属增材制造等领域。PLA 品牌推出教学、科研、工业全系列真空手套箱，凭借精密气密工艺、双柱复合净化系统与智能闭环
日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用的工作原理介绍＞/li>日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用的使用方法＞/li>日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用多少钱一台？日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用的说明书有吗？日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用的报价含票含运费吗＞/li>日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用有现货吗？凤凰城有办事机构吗？凤凰城销售电话是多少＞/li>
移动?/p>
工商已核宝/p>
