参考价栻/p>1万元以下
型号
HKT‑Master0.01AA /HKT‑Master0.01BB品牌
产地
日本样本
暂无误差率：
≤?.5% FS分辨率：
0.1%重现性：
≤?.2%分散方式９/p>红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
测量时间９/p>0?9min可调
测量范围９/p>0?00μm
森泽粉体特性测试仪
森泽HKT‑Master0.01AA /HKT‑Master0.01BB
国产粉体特性测试仪
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日本 Fujiwork 富士 HKT‑Master0.01AA/BB 是实验室台式超高精度接触式薄膜测厚仪，两款机型分工不同，AA 型量 0?00μm，面向陶瓷静电卡盘、硬质薄片、光刻胶基材筈/span>；BB 型量 0?00μm，针对锂电隔膜、光学超薄膜、FPC 覆盖膜等易受压形变的软质材料。整机分辨率可达 0.01μm，采用气动匀速下压机构，* 0.14N 超低恒定测量压力，防止超薄试样被挤压变形、压伤，规避人工操作带来的力度误差。标 R30 硬质合金球面测头、高平整陶瓷测量台，重复测量精度 0.1μm；配备数显主机，支持 RS232 通讯连接电脑，软件采集、存储、导出厚度数据与分布曲线，支持脚踏开关解放双手，可遵 ASTM D374、GB/T 6672 检测标准，广泛用于半导体、光学、新能源、新材料研发质检场景，支持市电与电池供电，实验室与产线抽检均可使用、/p>
〈HKT-Master0.01AA规格〈/p>
重复精度/0.1μm
测量分辨率／0.01μm
显示精度/0.2μm
测量压力?.14N
测定?R30超硬球面
测量范围/500μum
测量支架/测量面直径为φ50由陶瓷制戏/p>
输出方式/RS232C数字信号
电源／AC100V
选项/·专用软件·交换用测定器
〈HKT‑Master0.01BB规格〈/p>
●重复精?0.05μm ?
●测量分辨率/0.01μm
●线性度/±0.2%
●可调节测量压力?低测量压力：0.14N（/p>
●测量头/R30超硬球面
●测量范?200μm ?
●测量支?测量面?0，陶瓷材?/p>
●输出接口：RS232C
●电源：AC100V~240V
●选配件：•专用软 •更换式测量探头 •手动泵
?：指使用千分尺对测量点进行上下往复测量的重复精度、/p>
?：根据被测物体的材质，其测量范围可能会有所不同、/p>
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移动?/p>
工商已核宝/p>
