参考价栻/p>1万元以下
型号
HKT‑Master0.1BD/BB品牌
产地
日本样本
暂无误差率：
≤?.5% FS分辨率：
0.1%重现性：
≤?.2%分散方式９/p>红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
测量时间９/p>0?9min可调
测量范围９/p>0?00μm
森泽粉体特性测试仪
森泽HKT‑Master0.1BD/BB
国产粉体特性测试仪
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日本 Fujiwork 富士 HKT‑Master0.1BD/BB 为通用型台式接触式薄膜测厚仪，0.1μm 分辨率，BD 型号侧重硬质薄片、复合多层材料检测，BB 型号面向锂电隔膜、光学膜、PET 软膜等易变形柔性基材。测量量 0?00μm，重复精 0.2μm，采用气动匀速下压机构，固定 0.14N 低压测量，避免软质试样受压压扁产生测值偏差。配 R30 超硬球面测头 φ50mm 高平面度陶瓷测量台，耐磨不易划伤样品表面。分体式触控数显主机，支 RS232C/USB 数据输出，连 PC 软件采集、存储、导出厚度数据与分布曲线，支持脚踏开关操作，可遵 ASTM D374、GB/T 6672 薄膜厚度测试标准；支 AC100?40V 市电供电，兼顾实验室质检与产线离线抽检，广泛应用于新能源、光学材料、包装膜、柔性复合材料等行业、/p>
通过使测量头的下降速度保持恒定，从而减少不同操作人员带来的测量误差的测量仪器、/span>
〈技术参数〈/p>
●重复精度：0.2 μm
●测量分辨率?.1 μm
●线性度：?.2%
?低测量压力：0.14N
●测量头/R30超硬球面
●测量范?500μm
●测量支?测量面?0（陶瓷材质）
●输出接?USB
●电?AC100V
●选配?•可更换测量夳/p>
〈规格〈/p>
●重复精?0.2μm ?
●测量分辨率/0.1μm
●线性度/±0.2%
●可更改测量压力?低测量压力为0）?4N（/p>
●测量头/R30超硬球面
●测量范?500μm ?
●测量支?测量面?0（陶瓷材质）
●输出接?RS232C
●电?AC100V~240V 5节AA电池（亦可使用充电式电池（/p>
●选配?•专用软 •更换用测量 •手动泵
BD、BB 双机型差异化适配，BD 适配硬质、多层复合薄片，BB 针对易形变软质薄膜，同一设备平台兼顾软硬两类试样，减少设备采购成本
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移动?/p>
工商已核宝/p>
