参考价栻/p>1万元以下
型号
HKT‑Master0.01AAL品牌
产地
日本样本
暂无误差率：
≤?.5% FS分辨率：
0.1%重现性：
≤?.2%分散方式９/p>红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
测量时间９/p>0?9min可调
测量范围９/p>0?00μm
森泽粉体特性测试仪
森泽HKT‑Master0.01AAL
国产粉体特性测试仪
看了日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的用户又看亅/p>
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HKT‑Master0.01AAL HKT‑Master0.01AA 的大尺寸石质底座版本，除测量台支架结构外，其余核心硬件参数与 0.01AA 完全一致。配 200mm×150mm 大型花岗岩测量台，可放置大尺寸板材、大规格陶瓷静电卡盘、大面积光学基板等大尺寸试样。分辨率 0.01μm，量 0?00μm，恒 0.14N 气动低压下压，R30 硬质合金球面测头，重复测量精 0.1μm。花岗岩底座刚性强、形变极小，规避大样品自重带来台面微变形，保障测量稳定性。支 RS232C/USB 通讯，对接电脑软件采集、存储、导出厚度数据，可搭配脚踏开关，满足半导体、光学行业中大尺寸工件多点厚度检测，适合实验室精密质检与来料检验，遵循 ASTM D374、GB/T 6672 测试标准，AC100?40V 宽电压供电、/p>
〈规格〈/p>
※除测量支架外，其他产品规格均与HKT-Master0.01AA相同
●测量支?石制基准?nbsp;
尺寸：约（长?00mm ×（宽?50mm ×（高?00mm
特点
大型花岗岩石质测量台，台 200×150mm，专门适配大尺寸基板、大型静电卡盘等常规小台面无法放置的工件，拓展大试样检测能力、/p>
花岗岩底座刚性高、热变形小，抑制大件样品自重造成台面微形变，保障亚微米级测量稳定，解决大工件测值漂移问题、/p>
继承 0.01AA 全套核心精密单元?.01μm 超高分辨率?.14N 恒定低压气动下压，兼顾大样品兼容与超高测量精度，无需改动核心测量组件、/p>
气动匀速下压机构，无冲击接触试样，避免划伤高价值陶瓷、光学基材；球面硬质合金测头耐磨，降低长期使用维护成本、/p>
完整数据输出功能，可实现大工件多点扫描测量，记录全区域厚度分布，输出报告，满足半导体零部件品质追溯需求；脚踏开关解放双手，大件样品摆放操作更便捷、/p>
大型花岗岩石质测量台，台 200×150mm，专门适配大尺寸基板、大型静电卡盘等常规小台面无法放置的工件，拓展大试样检测能力
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移动?/p>
工商已核宝/p>
