误差率:
≤?.5% FS分辨率:
0.1%重现性:
≤?.2%分散方式9/p>红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
测量时间9/p>0?9min可调
测量范围9/p>0?00μm
森泽粉体特性测试仪
森泽 HKT‑Lite0.1
国产粉体特性测试仪
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高性能垊/p>
无线操作,重量轻?/p>
即使在无电源的环境中也能轻松进行0.1μm测量、/p>
〈基本规格?nbsp;
●重复性精?0.4μm ?
●测量分辨率/0.1μm
●测量精?1.8μm以下
●测量压?0?N以下?mm厚度测量时)
●测量头/R30超硬球面
●测量范?8mm?
●测量支?测量面?0,陶瓷材?/p>
●输出接?RS232C、USB
●电?硬币电池CR2032
●可选配件:•更换用测量头•PC数据传输线•手动泵
日本 Fujiwork HKT‑Lite0.1 为台式接触式经济型薄膜厚度检测仪,面向常规膜材的质检、来料筛查。分辨率 0.1μm,测量量 0?00μm,重复精 0.3μm。采用机械恒定压力下压结构,配置硬质合金球面测头与陶瓷测量台面,结构简洁稳定。机身自带数显屏幕,支持 USB 数据输出,可将测量数据导出至电脑,适配 ASTM D374、GB/T 6672 薄膜测试标准。整机体积小巧,占用台面空间小,AC100?40V 宽电压供电,适合包装膜、PET 膜、胶带、普通复合膜等常规材料,用于工厂质检室、产线离线抽检,兼顾性能与成本,不追求超高精度的大批量检测场景、/p>
轻量化经济型机型,简化部分高端配置,保留核心测厚能力,降低设备采购成本,适合大批量常规样品检测
大尺寸陶瓷无损检测主力日本日立HITACHI FS LINE(混合型)超声波成像装置在先进陶瓷、复合靶材、精密陶瓷构件的生产与研发过程中,内部微裂纹、层间剥离、微孔聚集、界面脱粘等隐性缺陷,是导致产?/p>
日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的工作原理介绍?
日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的使用方法?
日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1多少钱一台?
日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的说明书有吗>/li>
日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的报价含票含运费吗?
日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1有现货吗>/li>
凤凰城有办事机构吗?
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