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用于对图案磁性膜等进行微米级局部性能评估的磁滞回线测量装?/span>
借助切换机构，可实现平面方向与垂直方向的测量、/span>
在空气中仅需简单操作，即可在短时间内评估磁光特性、/span>
具备映射测量功能及电动载物台选项
※可承接测试测量、/span>
| 测定方向 | 面内／垂直方吐br style="box-sizing: border-box; margin: 0px; padding: 0px;"/>（手动切换） |
|---|---|
| 使用光源 | 半导体激光器 ※波长可协商 |
| 空间分辨玆/span> | ＜?μm?>1<#>（※使?0倍物镜时，进行垂直评估） ※其他放大倍数需另行商议 |
| MAX 印加磁场 | 垂直方向15kOe?.5T），面内方向10kOe ?0kOe等，其他施加磁场可另行协商、/span> |
NEOARK μKerr 环测量装置基于磁光克尔效应（MOKE），采用聚焦半导体激光实现微米级微区局部磁滞回线测试，专门用于图形化磁性薄膜、微磁结构、自旋电子薄膜等小区域样品的磁性表征，大气环境下即可完成检测，无需真空腔体 系统标配半导体激光光源，可手动切换面内纵向克 / 垂直极向克尔两种测量模式；垂直方向磁 可达15kOe?.5T）、面内磁 可达10kOe；搭 50 倍物镜时光斑可达微米级空间分辨，可针对微小图形单元定点测试磁滞回线、克尔旋转角 可选电 XY 样品台，支持二维 Mapping 面扫描，获得样品表面磁性分布图谱；可拓展低温恒温模块、电 / 应力外场调控组件，用于多条件下磁特性研究。配套专用测控软件，自动采集磁滞回线、提取矫顽力、饱和磁化、矩形比等参数，原始曲线与数据自动归档导出 广泛用于自旋电子、磁存储、磁性薄膜、磁光器件、磁畴材料研发，适合高校实验室、材料研发机构、磁元器件企业做微区磁性定量评估、br/>
聚焦激光束斑，可直接测量微小图案、局部薄膜区域，区别于宏 VSM 等平均化测试，实现单点微区磁性评估
日本ICC UCR-150N-S极低温反应机 技术综述及小试应用场景摘要：日 ICC UCR-150N‑S 极低温反应机（UC反应器）是一款面向化学合成、低温结晶、光化学反应、真空冷阱捕集、特种环墂/p>
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移动?/p>
工商已核宝/p>
