SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A₂）的测定。SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液、�/p>

颗粒分析仪采用动态光散射原理（DLS）。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm � 8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降、�/p>

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位� zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时（就是说，样品处于等电点），就要考虑选择**条件将颗粒进行絮凝和分离、�/p>

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A₂、�/p>

特征

• 将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一�?/p>

• 宽检测范围，宽浓度范図�/p>

• 双光路双角度粒径测量�?0° �?73°（�/p>

• 多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射先�/p>

• 用于粒径和zeta电位检测的微量样品江�/p>

• 自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

测量范围

• 颗粒直径�?.3nm-8.0μm

测量精度

• 粒径：按照ISO 13321/22412

• 可溯源的NIST聚苯乙烯乳胶颗粒�?00nm测量精度= +/- 2%

浓度

• 下限�?.1 mg/mL溶菌酵�/p>

• 上限�?0 wt % （视样品而定（�/p>

测量时间

• 粒径分析一般需大约2分钟(可自行设�?

样品江�/strong>

• 比色皿样品池

取样野�/strong>

• 12μl �?nbsp;4ml* �? 取样量取决于样品池容量。）

Zeta电位：激光多普勒泔�/strong>

测量范围 -200 � +200mV 测量时间 一般需大约2分钟 样品江�/strong> 专用一次性样品池 取样野�/strong> ~100μl，一次性样品池

分子量：静态光散射德拜曲线泔�/strong>

测量范围 Mw: 1×103- 2×107g/mol 样品江�/strong> 比色皿样品池

物理参数

电源９�/strong>AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA 激光：二极管泵浦倍频激光器 532 nm�?0 mW I�?/p> 接口９�/strong>USB 2.0，连接电脑与设备 外形尺寸９�/strong>385(D) ´ 528(W) ´ 273(H) mm (不计凸起部分) 重量９�/strong>25kg 控温范围９�/strong>1-90℃，电极池和塑料池上限为70ℂ�/p> 工作环境９�/strong>15-35℃，相对湿度�?5%，无结露 冷凝控制９�/strong>可连接吹扫气

测量技�?/h2>

SZ-100采用动态光散射技术测量粒径。样品颗粒在池中做布朗运动。光源照入样品池，散射光�?0° �?73°检测器采集（如下图所示）。系统根据样品浓度和光强自动选择**的散射角和样品池位置、�/p>

请参见动态光散射具体介绍

散射光信号进入到一个多通道的相关器，生成自相关函数用以确定颗粒的多分散系数。然后用Stokes-Einstein方程式计算粒径。可根据样品量和测量目的自定义样品池、�/p>

zeta电位测量可使用一次性塑料电极样品池。系统先测量样品的电导率，施加一个电场，然后用电泳光散射测量粒子运动。电荷的正负决定着粒子的移动方向，而移动方向和移动速度决定了电荷的数量级（zeta电位）。zeta电位的结果可用于衡量分散体系的稳定性、�/p>

请参见Zeta 电位技术具体介绌�/p>

SZ-100通过对不同浓度样品进行静态光散射测量计算出其**分子量值。通过德拜曲线及样品浓度就可得出分子量和第二维利系数、�/p>

请参见分子量测量技术具体介绌�/p>

所有这些测量都通过菜单运行，软件操作简单。可以选择合适的样品进行导航程序设定。初学者可以选择默认参数以得到好且高重现性的数据。对于清楚知道样品分析的熟练者可在高级选项中进行追加设置、�/p>