JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镛�/p>

JEM-ARM300F实现了世�?*扫描透射�?STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器�?*加速电压可�?00kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界**的STEM-HAADF像分辨率、�/p>

实现了世�?*扫描透射�?STEM-HAADF)分辨玆�/span>

JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器�?*加速电压可�?00kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界**的STEM-HAADF像分辨率、�/p>

STEM-HAADF像的保证分辨率达到了****�?8pm

采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM�?的保证分辨率可达58pm�?00kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）、�/p>

ETA校正� JEOL自主研发�?2极球差校正器　※选配仵�/p>

ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器、�/p>

强大的冷场发射电子枪HyperCF300

标配了全新设计的冷场发射电子�?低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析、�/p>

两种物镜极靴

为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴、�/p>

丰富的选购仵�/span>

能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器、�/p>

大范围的加速电压设�?/span>

标配300kV�?0kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广、�/p>

新开发的真空系统

新的排气系统达到了极高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中�?*限度地减轻了对样品的污染和损伤、�/p>

高稳定的镜筒和样品台

整体稳定性高、直�?30mm的镜筒增加了机械刚度� 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度、�/p>