如下是一个典型的CTX质构仪测试谱图，显示了面饼的硬度，脆性等指标、�/p>

�?９�/span>粉饼穿刺测试曲线国�/span>（负�?时间（�/span>

硬度：测试过程中峰值最大力值；

第一断裂衰减：代表产品脆性的层次性，衰减越大说明脆性的层次感越弱；

断裂性：产品发生第一次断裂的力值，力值越大说明越不容易断裂、�/p>

测试结果如下:

通过�?可知，当探头向下运行直至达到粉饼表面的破裂点之前，应力一直处于上升的趋势；到达破裂点时，图中显示第一个应力峰值；穿透表面后，测量的力值稳步增加，直到测量到第二个峰值，峰值越大，说明粉末的致密程度越高�?nbsp;