工作原理

HS-XT2型X荧光光谱仪采用能量色散X荧光技�?其原理是通过X射线管发出X射线照射到样品上，测量和分析样品产生的X射线荧光，即可获知样品的元素组成，得到物质中的定性和定量信息、�/span>

性能特点

�?nbsp; 测定元素：元素周期表中氟(F) -铀(U)元素
�?nbsp; 含量范围：ppm-100%(视不同基体定)
�?nbsp; 样品形态：固体、液体、粉末、薄膜样�?br style="box-sizing: border-box;"/>�?nbsp; 探测器：电制冷SDD
�?nbsp; 操作特点：硬件上置式设计，长时间使用不会出现激发和接收装置污染问题，硬件无需维护
�?nbsp; 样品自旋，检测面积更大，检测样品更具有代表性，稳定性更奼�br style="box-sizing: border-box;"/>�?nbsp; 温度控制：自适应恒温控制系统
�?nbsp; 安全性能：迷宫式设计，X射线发生部分采用铅屏蔽，互锁设计
�?nbsp; 分析速度快，及时提供分析数据指导生产。每个样品在几分钟内得到分析结果，大大提高工作效玆�br style="box-sizing: border-box;"/>�?nbsp; 定制化的中文操作软件，功能齐全，操作简单易学，适合实验室使�?/span>

主要技术指栆�/span>

探测�?/span>
� 典型分辨玆� 129ev
� 输出计数�?00KCPS
� 处理芯片：ASIC高速采集芯牆�br style="box-sizing: border-box;"/>� 峰背� �?5000，峰尾比�?800
� 窗口特点：超薄窗口，极大增加轻元素的信号采集强度
� 处理器：原装进口多道数据采集系统

X射线箠�/span>
� 高压�?-50kv�?-60kv�?-85kv视测试元素和检出限宙�br style="box-sizing: border-box;"/>� 电流�?-4000uA�?-8000uA�?-15000uA
� 功率�?0W�?5W�?00W
� 稳定性：8小时0.2%

高压发生�?/span>
� 输入电压�?4VDC
� 输入电流�?A�?0A�?5A(匹配不同的X射线� )
� 输出电压�?0Kv�?0Kv�?5Kv
� **功率�?0W�?5W�?00W
� 稳定性：8小时0.5%

光谱分析系统控制和数据处理系绞�/span>
� 16位模/数转换器
� 24英寸显示�?br style="box-sizing: border-box;"/>� 戴尔品牌计算朹�br style="box-sizing: border-box;"/>� 激光打印机

规格参数
� 检测方法：标准曲线法，理论系数法，基本参数法等根据客户需要配夆�br style="box-sizing: border-box;"/>� 工作环境温湿度范围：温度5~30℃，相对湿度小于等于80%
� 电源要求�?20V+10%�?0Hz
� 外观尺寸�?50mm*550mm*710mm
� 重量：约90kg