高精度二维晶体定向仪利用X射线衍射(XRD)原理, 通过测量晶体绕法线转动到不同方位角的Bragg角变�?反演局部晶体表面与镜面夹角△�?并通过二维扫描实现对整个晶体面△θ的描绘,*终实现二维，晶体面型误差的检测、�/span>

产品特点Product Features

●结构紧凑，集成度高
●可进行系统集成服务
●具有空间分辨，实现二维检浊�br style="box-sizing: border-box; animation-fill-mode: both; padding: 0px; margin: 0px;"/>●软件界面友好，人机交互性强
●通过几何关系反演，精度高
●不依赖标准晶片标定0位，减少系统误差

主要参数Technical Parameter