Zeta电位及纳米粒度分析仪

技术参数：

粒度分析范围: 0.3nm-10µm

重现性：误差�?%

浓度范围９�/span>ppb-40%

检测角度：180°

分析时间９�/span>30-120科�/span>

准确性：全量程米氏理论及非球形颗粒校正因孏�/span>

测量精度:无需预选，依据实际测量结果，自动生成单�?/span>/多峰分布结果

理论设计温度９�/span>0-90ℂ�span style="box-sizing: border-box; margin: 0px; font-family: 宋体;">，可以进行程序升温或降温

兼容性：兼容任何有机溶剂及大多数酸性或碱性溶涱�/span>

测量原理９�/span>

粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理分子量测量：水力直径或德拜曲线技术：膜电极，微电场电势测量，“Y"型光纤探针设计，异相多普勒频移，可控参比方法，快速傅立叶转换算法，非球形颗粒校正因子

光学系统９�/span>

3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路

软件系统９�/span>

先进皃�/span>Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输凹�/span>/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据＋�/span>Microsoft Access格式＇�/span>OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积刅�/span>/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符吇�/span>21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和授权等、�/span>

外部环境９�/span>

电源要求９�/span>90-240VAC＋�/span>5A＋�/span>50/60Hz环境要求：温度，10-40°C相对湿度：小亍�/span>95%

配置９�/span>

有内置和外置光纤测量探头可逈�/span>

Zeta电位及纳米粒度分析仪

主要特点：﹡采用的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法﹡皃�/span>“Y"型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系皃�/span>Zeta电位� 避免样品交叉污染与浓度变化。﹡的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。﹡的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。﹡超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。﹡的快速傅利叶变换算法＇�/span>FFT＋�/span>Fast FourierTransform Algorithm Method（�/span>,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。﹡膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。﹡无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果﹡消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度、�/span>