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检测和分析碳化硅外延表面缺陶/div>
报价9span>面议
品牌9/td> 中科汇珠
产地9/td> 广东
关注度: 173
型号9/td> 检测和分析 Si 外延中的表面缺陷和晶体缺陶/td>
产品介绍

技术参?

1)微分干涉镜头:532 nm波段光源

2)暗场镜头:457nm波段光源

3)PL镜头:313波段光源

4)PLX镜头:355波段光源

5)自动聚焦测量范围:+1.5mm

6)XYZ平台:移动范围550*400*5(XYZ),重复定位精?.1um,测量精?±0.5um

7)重复?CV<5%

8)致命缺陷测试准确?>95%


问商宵/div>
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东莞市中科汇珠半导体有限公司为您提供中科汇珠检测和分析碳化硅外延表面缺陷,检测和分析碳化硅外延表面缺陷产地为广东,属于测?计量仪器,除了检测和分析碳化硅外延表面缺陷的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供SiC晶圆表面载流子浓度检测、厚膜外延产品、SiC晶圆清洗服务
工商信息
企业名称

东莞市中科汇珠半导体有限公司

企业类型

信用代码

91441900MA55G4XT6K

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