1 平/span>

金牌会员

已认?/p>

日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅰ/div>
报价9span>50000兂/span>
品牌9/td> Microtrac-BEL
产地9/td> 日本
关注度: 44
型号9/td> Nanotrac Wave Ⅰ/td>
核心参数

误差率:不限

分辨率:400

重现性:300

仪器原理9span>动态光散射

分散方式9span>100

测量时间9span>不限

测量范围9span>300

产品介绍
  • 动态光背散射技?/span>:采用先进的动态光背散射技术,结合全量程米氏理论处理,可准确测量粒径范围为0.3nm-10µm的纳米颗粑span data-v-1b11b2a6="" class="rag-tag" data-index="2" data-site-name="" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 5px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: 1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; color: var(--Labels-Secondary); background-color: var(--Fills-F2);"> 、/p>

  • 微电场分析技?/span>:融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体,无需传统的比色皿,一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据 、/p>

  • 异相多谱勒频移技?/span>:获得的光信号强度较传统方法高出几个数量级,提高分析结果的可靠?span data-v-1b11b2a6="" class="rag-tag" data-index="4" data-site-name="" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 5px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: 1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; color: var(--Labels-Secondary); background-color: var(--Fills-F2);"> 、/p>

  • 快速傅利叶变换算法:迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时闳span data-v-1b11b2a6="" class="rag-tag" data-index="5" data-site-name="" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 5px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: 1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; color: var(--Labels-Secondary); background-color: var(--Fills-F2);"> 、/p>

独特的光学系统设讠/h3>
  • “Y”型光纤探针光路设计:通过蓝宝石测量窗口,直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布,在加载电流的情况下,与膜电极对应产生微电场,测量同一体系的Zeta电位,避免样品交叉污染与浓度变化 、/p>

  • 超短散射光程设计:减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确?span data-v-1b11b2a6="" class="rag-tag" data-index="7" data-site-name="" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 5px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: 1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; color: var(--Labels-Secondary); background-color: var(--Fills-F2);"> 、/p>

高精度与高灵敏度

  • 激光放大检测方泔/span>:信噪比是其他DLS方法?06倍,如光子相关光谱(PCS)和纳米跟踪(NT),不受样品中污染物造成的信号失真影哌span data-v-1b11b2a6="" class="rag-tag" data-index="8" data-site-name="" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 5px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: 1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; color: var(--Labels-Secondary); background-color: var(--Fills-F2);"> 、/p>

  • 可控参比方法(CRM(/span>:能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏?span data-v-1b11b2a6="" class="rag-tag" data-index="9" data-site-name="" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 5px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: 1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; color: var(--Labels-Secondary); background-color: var(--Fills-F2);"> 、/p>

  • 高精度测野/span>:粒度分析范围宽,重现性误差≤1%,浓度范围广?00ppb-40%w/v),测量精度高,无需预选,依据实际测量结果,自动生成单?多峰分布结果 、/p>

操作简便与高效

  • 无需复杂设备:无需比色皿、毛细管电泳池或外加电池,仅需点击Zeta电位操作键,一分钟内即可得到分析结枛span data-v-1b11b2a6="" class="rag-tag" data-index="11" data-site-name="" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 5px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: 1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; color: var(--Labels-Secondary); background-color: var(--Fills-F2);"> 、/p>

  • 消除多种干扰:完全消除由于空间位阻(不同光学元器件间的传输损失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差异,分散介质的影响,颗粒间多重散射等)带来的光学信号的损失,提高灵敏度 、/p>

强大的软件系绞/h3>
  • FLEX软件:提供强大的数据处理能力,包括图形、数据输?输入、个性化输出报告,及各种文字处理功能,如PDF格式输出、Internet共享数据、Microsoft Access格式(OLE)等。数据的完整性符?1 CFR PART 11要求 、/p>


问商宵/div>
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ的工作原理介绍>/li>
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ的使用方法>/li>
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ多少钱一台?
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ使用的注意事项
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ的说明书有吗?
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ的操作规程有吗>/li>
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ的报价含票含运费吗>/li>
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ有现货吗?
  • 日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ包安装吗?
深圳秋山工业设备有限公司为您提供Microtrac-BEL日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ,日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ产地为日本,属于激光粒度仪,除了日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供日本大明化学低温烧结性高纯度粉体氧化铝粉、日本进口寺田石舀式超低温粉碎抹茶研磨机FPS-1、日本日陶NIKKATO氧化锆球精密研磨粉碎介质陶瓷球
工商信息
企业名称

深圳秋山工业设备有限公司

企业类型

信用代码

91440300MADG12Y615

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