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INSPECTRA光学式半导体晶圆检测设备 Ÿ/div>
报价9span>面议
品牌9/td>
产地9/td> 日本
关注度: 411
型号9/td> INSPECTRA
产品介绍

光学系统阵容多样:可提供 BF(明场)/DF(暗场)/DIC(微分干涉对比)/ 特殊光学系统、/p>

检测工具:具备 AI-ADC 功能、多种数据输 / 输出接口、检测结果分析系统及配方共享功能、/p>

特殊晶圆适配:支持薄晶圆 / 翘曲晶圆检测,可适配面板检测、/p>

类型:硅晶圆、化合物晶圆、玻璃等

目标缺陷尺寸?gt;0.5 微米

检 throughput(产能)?gt;200 / 小时



问商宵/div>
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工商信息
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悠禧贸易(上海)有限公司

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913101157851531450

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