仪器简今�/span>

差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温�?△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应、�/span>

仪器用逓�/span>

相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应、�/span>

主要特点

1. 封闭式陶瓷保温炉体结构，大大提升了信号灵敏度和分辨率，能获得更稳定的基线、�/span>

2. 配有进口高频内核控制处理器，运算处理速度更快，控制更加高效、�/span>

3. 传感器采用进口材料设计，配备的S型、K型或E型传感器可通过软件任意切换，不同的测试场合可以灵活选择传感器类型，尤其适用于对高分子材料的相变、玻璃化类实验、�/span>

4. 相互独立的气氛控制，可以通过软件智能设置，仪器自动切换气路系统，实验效率更高、�/span>

5. 设备系统的下位机和上位机同时具有多点温度校正功能，满足不同实验场合的需求，提高了温度测试的准确性、�/span>

技术参�?/span>

1	温度范围	室温~1550℃（铂铑合金传感器）
2	量程范围	0～�?000μV
3	精确�?/span>	±0.001μV
4	灵敏�?/span>	0.001μV
5	升温速率	0.1~80�?min
6	温度精度	0.01ℂ�/span>
7	温度分辨玆�/span>	0.01ℂ�/span>
8	温度波动	±0.01ℂ�/span>
9	温度重复�?/span>	±0.1ℂ�/span>
10	传感器类垊�/span>	S型、K型、E型可任意切换(S型标配，K型、E型选配)
11	计时频率	16.6Hz
12	实验模式	FTC、STC模式任意设置
13	程序控温	全阶�?2阶控温灵活设�?/span>
14	控温方式	升温、恒温、降�?/span>
15	扫描类型	升温、降温、等温扫揎�/span>
16	扫描次数	循环扫描次数可设置高�?999次，且数据自动保字�/span>
17	气氛控制	两路气氛可自由设置，仪器自动切换
18	显示方式	24bit�?寸LCD触摸屏显礹�/span>
19	数据接口	标准USB接口
20	采样速率	1�?0Hz可程序设�?/span>
21	仪器校准	下位机和上位机同时具有多点温度校正功胼�/span>
22	参数标准	配有标准物质，用户可自行矫正温度